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高速CMOS时域交织逐次逼近型模数转换器关键技术研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第14-15页
缩略语对照表第15-20页
第一章 绪论第20-26页
    1.1 研究背景与意义第20-21页
    1.2 时域交织ADC研究现状及技术挑战第21-22页
    1.3 论文研究内容与创新点第22-24页
        1.3.1 研究内容第22-23页
        1.3.2 主要贡献及创新点第23-24页
    1.4 论文的组织结构第24-26页
第二章 时域交织ADC基本原理与通道失配第26-46页
    2.1 多通道时域交织ADC基本原理第26-27页
    2.2 通道间静态失配及校准技术第27-35页
        2.2.1 失调失配第27-31页
        2.2.2 增益失配第31-35页
    2.3 通道间动态失配及校准技术第35-41页
        2.3.1 时钟偏差第35-39页
        2.3.2 带宽失配第39-41页
    2.4 通道间非线性失配第41-43页
    2.5 时钟抖动第43页
    2.6 本章小结第43-46页
第三章 数字后台校准算法研究第46-72页
    3.1 现有时钟偏差校准技术第46-53页
        3.1.1 模拟方法第46-49页
        3.1.2 数模混合方法第49-52页
        3.1.3 数字方法第52-53页
    3.2 数字校准算法原理第53-54页
    3.3 数字探测模块第54-59页
    3.4 数字补偿模块第59-65页
        3.4.1 Lagrange微分器第59-62页
        3.4.2 微分器误差分析第62-64页
        3.4.3 补偿模块结构第64-65页
    3.5 校准算法整体实现及仿真结果第65-69页
    3.6 本章小结第69-72页
第四章 10位150MS/s单通道SARADC第72-96页
    4.1 系统研究第72-82页
        4.1.1 高速SARADC背景介绍第72-74页
        4.1.2 非二进制算法第74-77页
        4.1.3 开关时序及整体结构第77-80页
        4.1.4 线性度及建立时间分析第80-82页
    4.2 关键模块电路实现第82-87页
        4.2.1 电容阵列第82-83页
        4.2.2 高速动态比较器第83-85页
        4.2.3 SAR控制逻辑单元第85页
        4.2.4 异步时钟产生电路第85-86页
        4.2.5 译码器第86-87页
    4.3 版图布局第87-91页
        4.3.1 电容阵列匹配性研究第88-89页
        4.3.2 比较器匹配性原则第89-90页
        4.3.3 整体版图布局及芯片实现第90-91页
    4.4 芯片测试结果与分析第91-95页
    4.5 本章小结第95-96页
第五章 10位600MS/s四通道时域交织SARADC第96-128页
    5.1 四通道时域交织SARADC第96-99页
        5.1.1 整体结构第97页
        5.1.2 通道匹配性分析第97-99页
    5.2 数字校准算法设计第99-107页
    5.3 关键电路设计实现第107-122页
        5.3.1 时钟分频器第107-110页
        5.3.2 采样开关第110-114页
        5.3.3 参考电压产生器第114-120页
        5.3.4 LVDS驱动器第120-121页
        5.3.5 整体版图第121-122页
    5.4 芯片测试结构及分析第122-127页
    5.5 本章小结第127-128页
第六章 总结与展望第128-130页
    6.1 工作总结第128-129页
    6.2 未来工作展望第129-130页
参考文献第130-138页
致谢第138-140页
作者简介第140-142页

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