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基于新型耦合器复介电常数测试系统研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第一章 绪论第12-22页
    1.1 立题背景和研究意义第12-13页
    1.2 复介电常数物理描述第13-14页
    1.3 复介电常数测量研究现状第14-19页
        1.3.1 谐振法第15-17页
        1.3.2 网络参数法第17-19页
    1.4 本文主要工作及创新第19-20页
    1.5 本文的组织结构第20-22页
第二章 谐振腔微扰法测试物理模型第22-32页
    2.1 微扰法测试理论第22页
    2.2 无损材料公式推导第22-24页
    2.3 有损推导第24-28页
    2.4 微扰法测试技术第28-31页
        2.4.1 测试参数第28-30页
        2.4.2 测试系统第30-31页
    2.5 本章小结第31-32页
第三章 圆柱型谐振腔及耦合第32-54页
    3.1 圆柱型谐振腔第32-40页
        3.1.1 圆柱形波导场第32-35页
        3.1.2 圆柱形谐振腔场第35-37页
        3.1.3 腔体工作模式确定第37-39页
        3.1.4 腔体尺寸确定第39-40页
    3.2 谐振腔耦合第40-44页
        3.2.1 直接耦合第40-41页
        3.2.2 小孔第41页
        3.2.3 探针第41-42页
        3.2.4 环第42-44页
    3.3 谐振腔耦合等效电路——网络分析第44-49页
        3.3.1 半功率带宽公式第44-47页
        3.3.2 谐振腔耦合状态判断算法第47-49页
    3.4 谐振腔耦合干扰模式抑制第49-52页
    3.5 本章小结第52-54页
第四章 测试系统耦合器——对偶环耦合器第54-68页
    4.1 结构设计第54-56页
        4.1.1 理论第54-55页
        4.1.2 结构第55-56页
    4.2 分析讨论第56-67页
        4.2.1 场分析——表面电流与场第56-57页
        4.2.2 网络分析——等效电路模型与互感第57-60页
        4.2.3 对比普通环第60-61页
        4.2.4 参数分析第61-67页
    4.3 本章小结第67-68页
第五章 测试系统耦合器——平面弧形耦合器第68-87页
    5.1 平面双弧耦合器第68-71页
        5.1.1 结构设计第68-69页
        5.1.2 分析实验第69-71页
    5.2 平面 PCB 双弧耦合器第71-77页
        5.2.1 结构设计第71-72页
        5.2.2 分析实验第72-75页
        5.2.3 宽带多点实验研究第75-77页
    5.3 平面四弧耦合器第77-80页
        5.3.1 结构设计第77页
        5.3.2 分析实验第77-78页
        5.3.3 宽带多点实验研究第78-80页
    5.4 平面 PCB 四弧耦合器第80-86页
        5.4.1 结构设计第80页
        5.4.2 分析实验第80-84页
        5.4.3 宽带多点实验研究第84-86页
    5.5 本章小结第86-87页
第六章 测试系统软件设计第87-100页
    6.1 本征模式分析及三维电磁仿真第88-92页
    6.2 机械设计第92-96页
    6.3 数据采集计算第96-98页
    6.4 本章小结第98-100页
第七章 整体测试系统搭建及测试结果第100-118页
    7.1 测试系统组建第100-104页
    7.2 测试要点及步骤第104-108页
        7.2.1 设置第104-107页
        7.2.2 步骤第107-108页
    7.3 标准样品测试第108-111页
    7.4 氧化石墨烯测试第111-117页
        7.4.1 制备第112-115页
        7.4.2 测试第115-117页
    7.5 本章小结第117-118页
第八章 结束语第118-120页
致谢第120-121页
参考文献第121-128页
攻博期间取得的研究成果第128-129页

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