| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及分析 | 第10-12页 |
| 1.2.1 电解电容可靠性分析的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 光电耦合器可靠性分析的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 本文的结构安排和主要内容 | 第12-14页 |
| 第2章 元器件退化机理与退化实验方法研究 | 第14-20页 |
| 2.1 铝电解电容的退化机理 | 第14-16页 |
| 2.1.1 串联等效电路 | 第14-15页 |
| 2.1.2 电解电容退化原因 | 第15页 |
| 2.1.3 退化过程在等效电路参数上的表现 | 第15-16页 |
| 2.2 光电耦合器的退化机理 | 第16-17页 |
| 2.2.1 光电耦合器简介 | 第16-17页 |
| 2.2.2 光电耦合器的电流传输比 | 第17页 |
| 2.3 退化试验的设计 | 第17-19页 |
| 2.3.1 加速退化试验方法概述 | 第17-18页 |
| 2.3.2 退化实验设计 | 第18-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 元器件退化参数自动测量系统设计 | 第20-34页 |
| 3.1 测量需求分析 | 第20-24页 |
| 3.1.1 被测元器件特性分析及测量方案确定 | 第20-23页 |
| 3.1.1.1 电容在持续加电下的测量方案 | 第20-21页 |
| 3.1.1.2 光电耦合器在持续加电下的测量方案 | 第21-23页 |
| 3.1.2 自动测量系统技术指标要求 | 第23-24页 |
| 3.2 自动测量系统硬件设计 | 第24-29页 |
| 3.2.1 自动测量系统硬件组成 | 第24-25页 |
| 3.2.2 开关模块设计 | 第25-27页 |
| 3.2.3 测量电路设计 | 第27-29页 |
| 3.2.3.1 电容测量电路的设计 | 第27-28页 |
| 3.2.3.2 光电耦合器测量电路设计 | 第28-29页 |
| 3.3 自动测量系统软件设计 | 第29-32页 |
| 3.3.1 测量软件总体设计方案 | 第29-30页 |
| 3.3.2 软件功能设计 | 第30-32页 |
| 3.4 本章小结 | 第32-34页 |
| 第4章 元器件退化参数采集和处理 | 第34-59页 |
| 4.1 引言 | 第34页 |
| 4.2 电容退化数据采集与处理 | 第34-49页 |
| 4.2.1 电解电容测量环境搭建和数据采集 | 第34-35页 |
| 4.2.2 电解电容退化数据处理 | 第35-49页 |
| 4.2.2.1 基于多项式拟合的数据预处理 | 第35-42页 |
| 4.2.2.2 基于离散灰色理论进行电容性能退化预测 | 第42-49页 |
| 4.3 光电耦合器退化数据采集与处理 | 第49-57页 |
| 4.3.1 光电耦合器测量环境搭建和数据采集 | 第49-50页 |
| 4.3.2 光电耦合器退化数据处理 | 第50-57页 |
| 4.3.2.1 基于多项式拟合的数据预处理 | 第50-53页 |
| 4.3.2.2 回归分析 | 第53-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 附录 | 第64-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |