基于FPGA和ARM的数字逻辑测试仪的设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 论文研究内容及意义 | 第11-13页 |
| 第二章 硬件方案设计 | 第13-31页 |
| 2.1 硬件架构 | 第13-16页 |
| 2.2 上层板(ARM板)电路设计 | 第16-26页 |
| 2.2.1 ARM处理器 | 第16-18页 |
| 2.2.2 电源模块 | 第18-20页 |
| 2.2.3 USB模块 | 第20-22页 |
| 2.2.4 RS232模块 | 第22-23页 |
| 2.2.5 存储器设计 | 第23-25页 |
| 2.2.6 时钟电路设计 | 第25页 |
| 2.2.7 JTAG电路设计 | 第25-26页 |
| 2.2.8 LED显示电路 | 第26页 |
| 2.3 下层板(FPGA板)电路设计 | 第26-30页 |
| 2.3.1 调试与配置电路 | 第26-27页 |
| 2.3.2 时钟电路设计 | 第27-28页 |
| 2.3.3 电源电路设计 | 第28-29页 |
| 2.3.4 PLL供电电路设计 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 软件方案设计 | 第31-45页 |
| 3.1 ARM系统软件设计 | 第31-39页 |
| 3.1.1 ARM系统开发环境 | 第31-32页 |
| 3.1.2 ARM系统软件主程序设计 | 第32-34页 |
| 3.1.3 ARM系统初始化 | 第34页 |
| 3.1.4 UART配置及上位机通信 | 第34-36页 |
| 3.1.5 FPGA配置 | 第36-39页 |
| 3.2 FPGA系统软件设计 | 第39-43页 |
| 3.2.1 SPI调试对象分析 | 第40-41页 |
| 3.2.2 SPI时序分析 | 第41页 |
| 3.2.3 SPI调试与波形模拟 | 第41-43页 |
| 3.2.4 FPGA文件下载 | 第43页 |
| 3.3 本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 系统集成与调试 | 第45-63页 |
| 4.1 离线调试 | 第45-50页 |
| 4.1.1 调试环境的搭建 | 第45-46页 |
| 4.1.2 逻辑测试仪样机生产 | 第46-48页 |
| 4.1.3 系统初始化调试 | 第48-50页 |
| 4.2 测试系统硬件集成 | 第50-53页 |
| 4.3 数字逻辑测试仪的上位机软件集成 | 第53-57页 |
| 4.3.1 上位机软件架构 | 第53-55页 |
| 4.3.2 包含数字逻辑测试仪的测试软件编制 | 第55-57页 |
| 4.4 数字逻辑测试仪与测试系统集成调试 | 第57-61页 |
| 4.4.1 开发阶段集成调试 | 第57-58页 |
| 4.4.2 压力测试及错误分析 | 第58-61页 |
| 4.5 本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 总结 | 第63页 |
| 5.2 展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |
