| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-24页 |
| 1.1 铜铟镓硒薄膜电池的起源和发展 | 第12-15页 |
| 1.2 红外热像测温技术的发展和应用 | 第15-21页 |
| 1.2.1 红外热像测温技术在目标探测方面的应用 | 第16-18页 |
| 1.2.2 红外热像测温技术在监控电池失效点中的应用 | 第18-21页 |
| 1.3 红外热像准确测温技术的研究 | 第21-22页 |
| 1.4 本论文的主要研究内容 | 第22-24页 |
| 第2章 样品热物性测量与分析 | 第24-64页 |
| 2.1 引言 | 第24页 |
| 2.2 薄膜样品的基本参数 | 第24-25页 |
| 2.3 比热容 | 第25-26页 |
| 2.4 导热系数 | 第26-28页 |
| 2.5 发射率 | 第28-62页 |
| 2.5.1 薄膜样品光谱发射率的理论研究 | 第28-30页 |
| 2.5.2 薄膜样品光谱发射率的实验及结果 | 第30-62页 |
| 2.6 小结 | 第62-64页 |
| 第3章 红外热像测温方法及验证 | 第64-94页 |
| 3.1 引言 | 第64页 |
| 3.2 红外热像测温理论 | 第64-67页 |
| 3.3 常温红外热像测温实验 | 第67-76页 |
| 3.3.1 实验介绍 | 第67-70页 |
| 3.3.2 热电偶标定实验及水冷板验证实验的结果 | 第70-71页 |
| 3.3.3 常温红外热像测试结果 | 第71-76页 |
| 3.4 中高温红外热像测温实验 | 第76-92页 |
| 3.4.1 实验方法 | 第76-77页 |
| 3.4.2 实验装置 | 第77-80页 |
| 3.4.3 黑体炉的红外热像测温结果 | 第80-82页 |
| 3.4.4 能量与温度转化关系的标定结果 | 第82-86页 |
| 3.4.5 铝箔和碳化硅的红外热像测温结果 | 第86-89页 |
| 3.4.6 测温不确定度分析 | 第89-92页 |
| 3.5 小结 | 第92-94页 |
| 第4章 铜铟镓硒薄膜的红外热像测温实验 | 第94-128页 |
| 4.1 引言 | 第94页 |
| 4.2 真空腔体研制 | 第94-96页 |
| 4.3 红外窗片 | 第96-101页 |
| 4.3.1 红外窗片透射率 | 第96-99页 |
| 4.3.2 加装窗片后热像仪视场验证 | 第99-101页 |
| 4.4 非真空水浴控温条件下的实验 | 第101-115页 |
| 4.4.1 实验介绍 | 第101-102页 |
| 4.4.2 碳化硅的测量结果 | 第102-104页 |
| 4.4.3 铝箔的测量结果 | 第104-105页 |
| 4.4.4 CIGS (x=0.2)薄膜样品的测量结果 | 第105-111页 |
| 4.4.5 CIGS (x=0.3)薄膜样品的测量结果 | 第111-113页 |
| 4.4.6 CIGS (x=0.5)薄膜样品的测量结果 | 第113-115页 |
| 4.5 真空液氮控温条件下的实验 | 第115-125页 |
| 4.5.1 实验介绍 | 第115-117页 |
| 4.5.2 抛光紫铜板的测量结果 | 第117-119页 |
| 4.5.3 碳化硅的测量结果 | 第119-120页 |
| 4.5.4 CIGS (x=0)薄膜样品的测量结果 | 第120-122页 |
| 4.5.5 CIGS (x=0.2)薄膜样品的测量结果 | 第122-123页 |
| 4.5.6 CIGS (x=0.3)薄膜样品的测量结果 | 第123-124页 |
| 4.5.7 CIGS (x=0.5)薄膜样品的测量结果 | 第124-125页 |
| 4.6 小结 | 第125-128页 |
| 第5章 总结和展望 | 第128-132页 |
| 5.1 全文总结 | 第128-130页 |
| 5.2 工作展望 | 第130-132页 |
| 参考文献 | 第132-138页 |
| 致谢 | 第138-140页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第140页 |
