摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-24页 |
1.1 引言 | 第12-13页 |
1.2 红外探测器概况 | 第13-17页 |
1.2.1 光子探测器 | 第14-15页 |
1.2.2 热探测器 | 第15-17页 |
1.3 非制冷红外探测器研究现状与发展趋势 | 第17-21页 |
1.3.1 微测辐射热计 | 第17-19页 |
1.3.2 非制冷红外焦平面读出电路 | 第19-20页 |
1.3.2.1 读出电路简介 | 第19页 |
1.3.2.2 读出电路国内外研究现状 | 第19-20页 |
1.3.3 非制冷红外探测器及读出电路发展趋势 | 第20-21页 |
1.4 本论文研究目的和意义 | 第21页 |
1.5 本论文研究内容 | 第21-22页 |
1.6 本论文结构安排 | 第22-24页 |
第二章 非制冷红外探测器器件理论和分析 | 第24-43页 |
2.1 非制冷红外探测器工作原理 | 第24页 |
2.2 红外辐射理论 | 第24-26页 |
2.2.1 黑体辐射 | 第24页 |
2.2.2 普朗克定律 | 第24-25页 |
2.2.3 斯蒂芬-波耳兹曼定律 | 第25-26页 |
2.2.4 维恩位移定律 | 第26页 |
2.2.5 辐射传输 | 第26页 |
2.3 微测辐射热计的建模及仿真 | 第26-35页 |
2.3.1 电学与热学之间的等效 | 第26-27页 |
2.3.2 微测辐射热计电路模型的建立 | 第27-35页 |
2.3.2.1 微测辐射热计的结构及分析 | 第27-28页 |
2.3.2.2 微测辐射热计的热-电学模型 | 第28-30页 |
2.3.2.3 微测辐射热计建模仿真 | 第30-35页 |
2.4 探测器性能参数分析 | 第35-42页 |
2.4.1 噪声 | 第35-41页 |
2.4.1.1 微测辐射热计噪声分析 | 第36-39页 |
2.4.1.2 读出电路噪声分析 | 第39-40页 |
2.4.1.3 探测器噪声分析[] | 第40-41页 |
2.4.2 响应率 | 第41页 |
2.4.3 噪声等效温差(NETD) | 第41-42页 |
2.5 本章小结 | 第42-43页 |
第三章 自适应非制冷红外焦平面读出电路的设计 | 第43-60页 |
3.1 自适应读出电路概述 | 第43页 |
3.2 适应读出电路总体设计 | 第43-59页 |
3.2.1 单元读出电路—新型桥式偏置电路 | 第44-56页 |
3.2.1.1 新型桥式结构偏置电路设计 | 第46-55页 |
3.2.1.2 新型桥式结构偏置电路测试 | 第55-56页 |
3.2.2 新型积分及采样保持电路设计 | 第56-59页 |
3.3 本章小结 | 第59-60页 |
第四章 非制冷红外焦平面片上单点偏置DAC的设计 | 第60-68页 |
4.1 DAC电路设计 | 第60-65页 |
4.1.1 DAC电路设计要求 | 第60-62页 |
4.1.1.1 精度 | 第60-61页 |
4.1.1.2 转换单调性 | 第61页 |
4.1.1.3 动态范围(DR)、信噪比(SNR)和有效位数(ENOB) | 第61-62页 |
4.1.1.4 其他特性要求 | 第62页 |
4.1.2 DAC电路结构设计 | 第62-65页 |
4.2 DAC电路测试 | 第65-67页 |
4.3 本章小结 | 第67-68页 |
第五章 非制冷红外焦平面片上温度传感器电路的设计 | 第68-77页 |
5.1 温度传感器电路工作原理 | 第69-71页 |
5.2 温度传感器电路设计 | 第71-74页 |
5.3 温度传感器电路的测试 | 第74-75页 |
5.4 本章小结 | 第75-77页 |
第六章 非制冷红外焦平面片上ADC的设计 | 第77-97页 |
6.1 片上ADC理论分析 | 第78-83页 |
6.1.1 ADC的分类及结构选定 | 第78-82页 |
6.1.1.1 静态特性参数 | 第79-80页 |
6.1.1.2 动态特性参数 | 第80-82页 |
6.1.2 ADC的分类及结构选定 | 第82-83页 |
6.1.2.1 ADC的分类 | 第82页 |
6.1.2.2 ADC的结构选定 | 第82-83页 |
6.2 列级集成ADC功能描述 | 第83-84页 |
6.3 列级集成ADC电路设计 | 第84-92页 |
6.3.1 斜波发生器 | 第85-86页 |
6.3.2 比较器 | 第86-88页 |
6.3.3 14bits gray码计数器 | 第88-89页 |
6.3.4 信号采集单元 | 第89-90页 |
6.3.5 电流比较器 | 第90-91页 |
6.3.6 码型转换器 | 第91-92页 |
6.4 列级集成ADC的仿真 | 第92-94页 |
6.4.1 列级集成ADC的功能仿真 | 第92-93页 |
6.4.2 列级集成ADC的性能仿真 | 第93-94页 |
6.5 列级集成ADC的测试 | 第94-95页 |
6.6 本章小结 | 第95-97页 |
第七章 非制冷红外探测器测试及分析 | 第97-110页 |
7.1 非制冷红外探测器分析 | 第97-100页 |
7.1.1 非制冷红外焦平面单片集成技术 | 第97-99页 |
7.1.2 非制冷红外探测器关键技术 | 第99-100页 |
7.2 非制冷红外探测器性能测试 | 第100-108页 |
7.2.1 测试依据 | 第100-103页 |
7.2.2 测试系统设计 | 第103-105页 |
7.2.3 测试结果与分析 | 第105-108页 |
7.2.3.1 读出电路测试 | 第105-106页 |
7.2.3.2 探测器测试 | 第106-108页 |
7.3 本章小结 | 第108-110页 |
第八章 总结与展望 | 第110-113页 |
致谢 | 第113-114页 |
参考文献 | 第114-120页 |
攻读博士学位期间取得的成果 | 第120-122页 |