基于X射线数字成像技术的水稻穗部籽粒检测方法研究
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
第1章 绪论 | 第7-14页 |
1.1 水稻育种技术和表型组学的发展 | 第7-8页 |
1.2 穗部籽粒性状对水稻育种的研究意义 | 第8-9页 |
1.3 国内外研究现状 | 第9-11页 |
1.3.1 传统检测方法 | 第9页 |
1.3.2 国内外自动化检测方法的研究现状 | 第9-11页 |
1.4 研究的创新点 | 第11-12页 |
1.5 本文结构安排 | 第12-13页 |
1.6 本章小结 | 第13-14页 |
第2章 X射线实时成像系统构成 | 第14-21页 |
2.1 系统整体构成及工作原理 | 第14页 |
2.1.1 系统组成 | 第14页 |
2.2 成像装置的整体构成 | 第14-19页 |
2.2.1 X射线发生装置的原理和器件选择 | 第15-17页 |
2.2.2 X射线成像装置的原理和器件选择 | 第17-18页 |
2.2.3 成像装置运动控制模块 | 第18-19页 |
2.3 机械传动机构 | 第19-20页 |
2.4 本章小结 | 第20-21页 |
第3章 X射线成像原理 | 第21-26页 |
3.1 X射线的基本性质 | 第21-22页 |
3.2 X射线与物质的相互作用 | 第22-23页 |
3.3 X射线与物质的衰减作用 | 第23-24页 |
3.3.1 线衰减系数 | 第23页 |
3.3.2 质量衰减系数 | 第23页 |
3.3.3 单能射线的衰减系数 | 第23-24页 |
3.3.4 多能射线的衰减系数 | 第24页 |
3.4 X射线的成像原理和方法 | 第24-25页 |
3.4.1 X射线成像原理 | 第24-25页 |
3.5 本章小结 | 第25-26页 |
第4章 X射线图像预处理及硬件参数设定 | 第26-38页 |
4.1 稻穗成像问题分析 | 第26-27页 |
4.1.1 图像噪声问题 | 第26页 |
4.1.2 图像对比度问题 | 第26-27页 |
4.2 图像的量化表示 | 第27-29页 |
4.2.1 数字化表示 | 第27页 |
4.2.2 图像噪声数字化表示 | 第27-28页 |
4.2.3 图像的直方图数字表示 | 第28-29页 |
4.3 X射线图像去噪方法研究 | 第29-32页 |
4.3.1 多帧叠加的帧间去噪方法 | 第29页 |
4.3.2 图像滤波的帧内去噪 | 第29-32页 |
4.4 X射线图像增强 | 第32-33页 |
4.4.1 灰度直方图拉伸 | 第32-33页 |
4.5 管电流设定 | 第33-35页 |
4.5.1 管电流变化对空白背景图像灰度的影响 | 第33页 |
4.5.2 管电压变化对空白背景图像灰度的影响 | 第33-35页 |
4.5.3 管电压设定 | 第35页 |
4.6 水稻籽粒成像预分析 | 第35-37页 |
4.7 本章小结 | 第37-38页 |
第5章 稻穗的X射线图像参数分析 | 第38-53页 |
5.1 实验材料 | 第38页 |
5.2 机器视觉软件Halcon | 第38-39页 |
5.3 图像分割 | 第39-40页 |
5.4 形态学处理 | 第40-42页 |
5.4.1 腐蚀 | 第40页 |
5.4.2 膨胀 | 第40-41页 |
5.4.3 开运算和闭运算 | 第41-42页 |
5.5 水稻实粒参数获取方法 | 第42-45页 |
5.5.1 多阈值分割方法 | 第42-44页 |
5.5.2 阈值分级的形态学处理 | 第44-45页 |
5.6 水稻空秕粒计算方法 | 第45-48页 |
5.6.1 空秕粒阈值分割 | 第45-47页 |
5.6.2 空秕粒形态学处理 | 第47页 |
5.6.3 区域异或处理 | 第47-48页 |
5.7 水稻粒长计算方法 | 第48-49页 |
5.8 实验结果及数据分析 | 第49-52页 |
5.8.1 检测时间分析 | 第49-50页 |
5.8.2 检测算法分析 | 第50-52页 |
5.9 本章小结 | 第52-53页 |
第6章 总结 | 第53-54页 |
6.1 本课题工作总结 | 第53页 |
6.2 课题下一步研究计划 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-59页 |
在校期间的研究成果及发表的学术论文 | 第59-60页 |
致谢 | 第60页 |