| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 缩略语表 | 第10-19页 |
| 第一章 绪论 | 第19-24页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第19-21页 |
| 1.2 论文的主要贡献 | 第21-22页 |
| 1.3 论文的研究内容和组织结构 | 第22-24页 |
| 第二章 X波段频率合成器系统设计 | 第24-42页 |
| 2.1 频率合成器综述 | 第24-30页 |
| 2.1.1 频率合成器的主要性能指标 | 第24-25页 |
| 2.1.2 频率合成器的基本架构 | 第25-28页 |
| 2.1.3 频率合成基本原理 | 第28-30页 |
| 2.2 X波段频率合成器的设计难点 | 第30-33页 |
| 2.2.1 X波段频率合成器的应用与性能要求 | 第30-31页 |
| 2.2.2 输出频率范围 | 第31-32页 |
| 2.2.3 相位噪声及杂散性能 | 第32-33页 |
| 2.2.4 锁定时间 | 第33页 |
| 2.3 X波段频率合成器系统设计 | 第33-41页 |
| 2.3.1 系统性能指标分析 | 第33-34页 |
| 2.3.2 架构选取与系统指标制定 | 第34-36页 |
| 2.3.3 系统级仿真分析与验证 | 第36-38页 |
| 2.3.4 自顶向下的电路指标分配 | 第38-41页 |
| 2.4 小结 | 第41-42页 |
| 第三章 X波段频率合成器中高频模块的设计 | 第42-65页 |
| 3.1 X波段压控振荡器综述 | 第42-48页 |
| 3.1.1 压控振荡器的基本原理 | 第42-44页 |
| 3.1.2 压控振荡器的基本架构 | 第44-46页 |
| 3.1.3 压控振荡器的相位噪声分析 | 第46-48页 |
| 3.2 高性能X波段压控振荡器的设计难点 | 第48-54页 |
| 3.2.1 低电源电压的影响 | 第49-51页 |
| 3.2.2 晶体管寄生效应的影响 | 第51-52页 |
| 3.2.3 电容阵列寄生效应的影响 | 第52-54页 |
| 3.3 低噪声X波段压控振荡器的设计 | 第54-64页 |
| 3.3.1 X波段压控振荡器架构的选取 | 第54-57页 |
| 3.3.2 频率自检测辅助的噪声抑制技术 | 第57-58页 |
| 3.3.3 调谐电压范围拓展与KVCO降低 | 第58-59页 |
| 3.3.4 低噪声电压偏置电路的设计 | 第59-64页 |
| 3.4 小结 | 第64-65页 |
| 第四章 X波段频率合成器中低频模块的设计 | 第65-89页 |
| 4.1 低频模块简介 | 第65-70页 |
| 4.1.1 晶体振荡器 | 第65-69页 |
| 4.1.2 鉴频鉴相器与电荷泵 | 第69-70页 |
| 4.2 高性能X波段频率合成器中低频模块的设计难点 | 第70-73页 |
| 4.2.1 高闭环增益对带内噪声的影响 | 第70-71页 |
| 4.2.2 低电源电压对杂散抑制的影响 | 第71-73页 |
| 4.3 X波段频率合成器中低频噪声与杂散的抑制 | 第73-88页 |
| 4.3.1 晶体振荡器的噪声来源与抑制 | 第73-74页 |
| 4.3.2 应用于晶体振荡器的低噪声电流偏置与高电源噪声抑制比供电电路 | 第74-81页 |
| 4.3.3 输出杂散抑制与电荷泵输出电流噪声的降低 | 第81-88页 |
| 4.4 小结 | 第88-89页 |
| 第五章 快速自动频率校准算法的研究与高速分频器电路设计 | 第89-115页 |
| 5.1 AFC简介 | 第89-92页 |
| 5.2 应用于X波段频率合成器中的快速AFC设计 | 第92-101页 |
| 5.2.1 AFC精度与速度分析 | 第92-94页 |
| 5.2.2 快速AFC架构与算法设计 | 第94-97页 |
| 5.2.3 基于多相位采样的AFC加速技术 | 第97-101页 |
| 5.3 适用于快速锁定AFC算法的多相位输出分频器设计 | 第101-111页 |
| 5.3.1 高速分频器概述 | 第101-103页 |
| 5.3.2 应用于X波段的分频器的架构选择 | 第103-105页 |
| 5.3.3 分频器单元设计与功耗优化 | 第105-107页 |
| 5.3.4 多相位输出分频器设计 | 第107-111页 |
| 5.4 小结 | 第111-115页 |
| 第六章 X波段频率合成器的实现与芯片测试 | 第115-131页 |
| 6.1 系统的硬件实现 | 第115-121页 |
| 6.1.1 版图设计与电路布局 | 第115-117页 |
| 6.1.2 芯片封装 | 第117-119页 |
| 6.1.3 片外器件与PCB设计 | 第119-121页 |
| 6.2 芯片测试与性能分析 | 第121-130页 |
| 6.2.1 测试环境及设备 | 第121-122页 |
| 6.2.2 输出频谱纯度 | 第122-127页 |
| 6.2.3 面积、功耗与性能总结 | 第127-130页 |
| 6.3 小结 | 第130-131页 |
| 第七章 总结与展望 | 第131-133页 |
| 7.1 工作总结 | 第131-132页 |
| 7.2 研究展望 | 第132-133页 |
| 参考文献 | 第133-145页 |
| 攻读博士学位期间已发表或录用的论文 | 第145-147页 |
| 攻读博士学位期间参与的科研项目 | 第147-148页 |
| 致谢 | 第148页 |
