| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 FPGA器件的概述 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第9-12页 |
| 1.2.1 国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 FPGA器件的发展情况 | 第10-12页 |
| 1.3 FPGA器件可靠性检测的意义 | 第12-13页 |
| 1.4 FPGA方法与集成电路ASIC的区别及测试方法的比较 | 第13-15页 |
| 1.4.1 FPGA方法与集成电路ASIC的区别 | 第13-14页 |
| 1.4.2 FPGA方法与集成电路ASIC测试方法的比较 | 第14-15页 |
| 1.5 FPGA器件测试方法介绍 | 第15-17页 |
| 第2章 FPGA的结构及测试方案 | 第17-23页 |
| 2.1 FPGA器件结构特性分析 | 第17-20页 |
| 2.2 FPGA器件测试总体方案 | 第20-23页 |
| 第3章 FPGA器件可编程逻辑单元（CLB）测试 | 第23-38页 |
| 3.1 FPGA器件可编程逻辑单元 （ CLB） 测试方法研究 | 第23-25页 |
| 3.2 查找表 （ LUT） 测试 | 第25-29页 |
| 3.2.1 查找表 （ LUT） 测试方案 | 第26-28页 |
| 3.2.2 查找表LUT测试实现 | 第28-29页 |
| 3.3 触发器测试 | 第29-31页 |
| 3.3.1 触发器测试方案 | 第29-30页 |
| 3.3.2 触发器测试方案的实现 | 第30-31页 |
| 3.4 快速进位逻辑测试 | 第31-34页 |
| 3.4.1 快速进位逻辑测试方案 | 第31-34页 |
| 3.5 块RAM（ Block RAM） 的测试 | 第34-36页 |
| 3.5.1 块RAM（ Block RAM） 的测试方案 | 第34页 |
| 3.5.2 块RAM（ Block RAM） 测试方案的实现 | 第34-36页 |
| 3.6 IOB的 测试 | 第36-38页 |
| 3.6.1 IOB的 测试方案 | 第36-38页 |
| 第4章 可编程互联资源（IR）的测试 | 第38-49页 |
| 4.1 FPGA器件可编程互联资源 （ IR） 测试研究 | 第38页 |
| 4.2 可编程互联资源 （ IR） 的结构 | 第38-42页 |
| 4.2.1 按照布线资源的分布位置分类 | 第40-42页 |
| 4.3 可编程互联资源 （ IR） 测试方案 | 第42-44页 |
| 4.4 连线资源测试实现 | 第44-49页 |
| 4.4.1 长线测试 | 第44页 |
| 4.4.2 测试路径选择 | 第44-46页 |
| 4.4.3 测试配置开发 | 第46-47页 |
| 4.4.4 短线测试 | 第47页 |
| 4.4.5 测试路径选择 | 第47-48页 |
| 4.4.6 测试配置开发 | 第48页 |
| 4.4.7 测试结果检测 | 第48-49页 |
| 第5章 基于ATE的FPGA器件在线自动配置方案研究 | 第49-51页 |
| 5.1 FPGA器件配置方法研究 | 第49页 |
| 5.2 基于ATE的FPGA器件在线自动配置方案 | 第49-51页 |
| 总结与展望 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
