齿科CT中平板探测器校正与评估方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-16页 |
| 1.1.1 CT的产生 | 第10-11页 |
| 1.1.2 CT机的发展历史 | 第11-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-19页 |
| 1.2.1 CT伪影产生的原因 | 第16-18页 |
| 1.2.2 环状伪影简述 | 第18-19页 |
| 1.3 实验室口腔CT成像系统简述 | 第19-20页 |
| 1.3.1 实验室口腔CT成像系统基本组成 | 第19-20页 |
| 1.3.2 实验室口腔CT成像系统工作原理 | 第20页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第20-22页 |
| 第2章 CT成像理论知识 | 第22-41页 |
| 2.1 物理基础 | 第22-26页 |
| 2.1.1 X射线的物理基础 | 第22-23页 |
| 2.1.2 X射线与物质的相互作用 | 第23-25页 |
| 2.1.3 X射线的衰减特性 | 第25-26页 |
| 2.2 数学基础 | 第26-36页 |
| 2.2.1 Radon变换与逆变换 | 第26-27页 |
| 2.2.2 傅里叶中心切片定理 | 第27-29页 |
| 2.2.3 直接反投影重建算法 | 第29-30页 |
| 2.2.4 滤波反投影重建算法 | 第30-33页 |
| 2.2.5 迭代重建算法 | 第33-34页 |
| 2.2.6 FDK重建算法 | 第34-36页 |
| 2.3 平板探测器系统简介 | 第36-40页 |
| 2.3.1 平板探测器的基本结构 | 第37-39页 |
| 2.3.2 平板探测器的缺陷 | 第39-40页 |
| 2.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第3章 平板探测器输出校正 | 第41-70页 |
| 3.1 探测器特性实验 | 第41-46页 |
| 3.1.1 平板探测器稳定输出时间 | 第42页 |
| 3.1.2 平板探测器响应特性 | 第42-43页 |
| 3.1.3 平板探测器像元特性 | 第43-44页 |
| 3.1.4 平板探测器动态范围 | 第44-45页 |
| 3.1.5 平板探测器响应分布 | 第45-46页 |
| 3.2 暗场校正 | 第46-48页 |
| 3.3 增益校正 | 第48-58页 |
| 3.3.1 基于线性拟合的增益校正方法 | 第48-50页 |
| 3.3.2 基于阈值的增益校正方法 | 第50-52页 |
| 3.3.3 基于灰度直方图的增益校正方法 | 第52-55页 |
| 3.3.4 校正结果对比分析 | 第55-58页 |
| 3.4 像素点响应校正 | 第58-68页 |
| 3.4.1 坏像素点的判别 | 第59-64页 |
| 3.4.2 坏像素点的补偿 | 第64-67页 |
| 3.4.3 算法验证 | 第67-68页 |
| 3.5 本章小结 | 第68-70页 |
| 第4章 平板探测器质量评估 | 第70-80页 |
| 4.1 探测器质量影响 | 第70-71页 |
| 4.2 平板探测器质量评估参数的建立 | 第71-77页 |
| 4.2.1 质量评估系统参数 | 第71-73页 |
| 4.2.2 评估方法 | 第73-77页 |
| 4.3 探测器实际评估结果分析 | 第77-79页 |
| 4.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第5章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 5.1 总结 | 第80页 |
| 5.2 展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 附录 | 第88页 |
