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MEMS器件分层失效的强化试验技术研究

摘要第10-11页
ABSTRACT第11页
第一章 绪论第12-26页
    1.1 课题背景与意义第12-13页
    1.2 国内外研究现状第13-23页
        1.2.1 硅微结构分层失效研究现状第13-19页
        1.2.2 可靠性强化试验研究现状第19-23页
    1.3 研究思路与结构安排第23-26页
        1.3.1 研究内容与思路第23-25页
        1.3.2 内容安排第25-26页
第二章 MEMS结构分层失效机理与影响因素分析第26-37页
    2.1 研究对象的确定与特性分析第26-28页
        2.1.1 研究对象的确定第26-27页
        2.1.2 机械性能测试第27-28页
    2.2 加工工艺第28-30页
        2.2.1 阳极键合第28-29页
        2.2.2 加工过程第29页
        2.2.3 加工过程中存在的问题及其对性能的影响第29-30页
    2.3 层间结合强度的分析第30-31页
        2.3.1 层间结合机理第30-31页
        2.3.2 影响层间结合强度的因素第31页
    2.4 环境应力的影响机理与的确定第31-35页
        2.4.1 温度对分层失效的影响机理第31-33页
        2.4.2 振动对分层失效的影响机理第33-34页
        2.4.3 冲击对分层失效的影响机理第34-35页
        2.4.4 环境应力的确定第35页
    2.5 减少分层失效的方法第35-36页
    2.6 本章小结第36-37页
第三章 MEMS结构分层失效的温度循环强化试验第37-47页
    3.1 温度强化试验剖面的建立第37-39页
        3.1.1 剖面参数的确定第37-39页
        3.1.2 温度循环试验剖面第39页
    3.2 有限元仿真分析第39-42页
        3.2.1 仿真平台第39页
        3.2.2 热 -机械耦合理论第39-40页
        3.2.3 有限元模型的建立第40-41页
        3.2.4 强化试验有限元仿真第41-42页
    3.3 温度试验第42-45页
        3.3.1 材料与试样第42页
        3.3.2 试验设备与程序第42-44页
        3.3.3 试验结果与分析第44-45页
    3.4 本章小结第45-47页
第四章 MEMS结构分层失效的振动强化试验第47-56页
    4.1 振动强化试验剖面的建立第47-49页
        4.1.1 剖面参数的确定第47-48页
        4.1.2 振动试验剖面第48-49页
    4.2 振动载荷下的动态特性分析与仿真第49-53页
        4.2.1 振动力学方程第49-50页
        4.2.2 振动载荷下的响应分析第50-53页
    4.3 振动试验第53-55页
        4.3.1 材料与试样第53页
        4.3.2 试验设备与程序第53-54页
        4.3.3 试验结果与分析第54-55页
    4.4 本章小结第55-56页
第五章 MEMS结构分层失效的冲击强化试验第56-64页
    5.1 冲击强化试验剖面的建立第56-57页
        5.1.1 剖面参数的确定第56-57页
        5.1.2 冲击试验剖面第57页
    5.2 冲击应力分析第57-59页
        5.2.1 层状结构在冲击应力下力学特性理论模型第57-58页
        5.2.2 层状结构受冲击应力的力学特性有限元仿真第58-59页
    5.3 跌落实验第59-63页
        5.3.1 材料与试样第59-60页
        5.3.2 试验设备与程序第60-62页
        5.3.3 试验结果及分析第62-63页
    5.4 本章小结第63-64页
第六章 结论与展望第64-66页
    6.1 主要研究结论第64-65页
    6.2 研究展望第65-66页
致谢第66-67页
参考文献第67-72页
作者在学期间取得的学术成果第72页

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