| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 冲击波测试技术发展现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 冲击波存储测试装置研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.3 爆炸环境对冲击波超压测量装置的影响研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 论文主要工作 | 第13-15页 |
| 2 冲击波测试装置设计要求分析 | 第15-22页 |
| 2.1 测试装置性能参数要求分析 | 第15-17页 |
| 2.2 长低噪声同轴电缆对冲击波压力信号的影响 | 第17-20页 |
| 2.2.1 长低噪声同轴电缆对高频信号传输的影响 | 第17-19页 |
| 2.2.2 ICP传感器驱动长低噪声同轴电缆的能力 | 第19-20页 |
| 2.3 本章小结 | 第20-22页 |
| 3 冲击波超压测试影响因素研究 | 第22-31页 |
| 3.1 压电式压力传感器对爆炸环境的适用性分析 | 第22-28页 |
| 3.1.1 压电式压力传感器在热冲击下的适用性分析 | 第22-26页 |
| 3.1.2 压电式压力传感器对爆炸振动的适用性分析 | 第26-28页 |
| 3.2 安装特性干扰 | 第28-29页 |
| 3.3 环境因素干扰 | 第29-30页 |
| 3.3.1 气象条件的影响 | 第29页 |
| 3.3.2 电磁干扰的影响 | 第29-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 4 冲击波存储测试装置设计 | 第31-56页 |
| 4.1 冲击波存储测试装置总体方案设计 | 第31-33页 |
| 4.1.1 设计要求 | 第31页 |
| 4.1.2 测试原理 | 第31-32页 |
| 4.1.3 测试装置组成 | 第32页 |
| 4.1.4 测试装置设计要求 | 第32-33页 |
| 4.2 传感器选型 | 第33页 |
| 4.3 模拟电路设计 | 第33-37页 |
| 4.3.1 电压放大器 | 第34-35页 |
| 4.3.2 放大滤波电路 | 第35-37页 |
| 4.3.3 跟随电路 | 第37页 |
| 4.3.4 触发电路 | 第37页 |
| 4.4 数字电路设计 | 第37-42页 |
| 4.4.1 主控芯片选型与设计 | 第38-39页 |
| 4.4.2 A/D转换电路设计 | 第39-40页 |
| 4.4.3 存储电路设计 | 第40-41页 |
| 4.4.4 数据传输电路设计 | 第41-42页 |
| 4.5 电源电路设计 | 第42-45页 |
| 4.6 PCB设计 | 第45页 |
| 4.7 下位机程序设计 | 第45-52页 |
| 4.7.1 PLL时钟程序设计 | 第46-47页 |
| 4.7.2 AD程序设计 | 第47-48页 |
| 4.7.3 FIFO程序设计 | 第48-49页 |
| 4.7.4 触发存储程序设计 | 第49-50页 |
| 4.7.5 数据传输程序设计 | 第50-52页 |
| 4.8 上位机程序设计 | 第52-53页 |
| 4.9 外壳设计 | 第53-54页 |
| 4.9.1 壳体设计要求分析 | 第53-54页 |
| 4.9.2 存储测试装置结构组成及装配 | 第54页 |
| 4.10 本章小结 | 第54-56页 |
| 5 实验验证 | 第56-62页 |
| 5.1 测试装置性能测试 | 第56-59页 |
| 5.1.1 电压放大器性能测试 | 第56-57页 |
| 5.1.2 传感器零漂测试 | 第57页 |
| 5.1.3 放大滤波电路性能测试 | 第57-58页 |
| 5.1.4 采样频率测试 | 第58-59页 |
| 5.2 振动对存储测试装置的影响 | 第59-60页 |
| 5.3 模拟实验 | 第60-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 6 全文总结与展望 | 第62-64页 |
| 6.1 全文总结 | 第62-63页 |
| 6.2 展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 附录 | 第68页 |
