| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 论文研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.1.1 问题的提出 | 第8页 |
| 1.1.2 课题研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 XLPE电力电缆与硅橡胶接头概述 | 第9-12页 |
| 1.2.1 XLPE电力电缆概述 | 第9-11页 |
| 1.2.2 硅橡胶接头概述 | 第11-12页 |
| 1.3 课题研究现状 | 第12-17页 |
| 1.3.1 XLPE-SIR接头故障常用检测技术 | 第12-15页 |
| 1.3.2 XLPE-SIR接头界面潜伏缺陷 | 第15-16页 |
| 1.3.3 绝缘界面电痕破坏研究趋势 | 第16-17页 |
| 1.4 主要内容 | 第17-18页 |
| 2 界面电场数值计算方法分析以及实验平台构建 | 第18-40页 |
| 2.1 静电场分析理论 | 第18-24页 |
| 2.1.1 静电场基本方程 | 第18-19页 |
| 2.1.2 静电场边值问题 | 第19-20页 |
| 2.1.3 静电场中的空间电荷 | 第20-21页 |
| 2.1.4 静电场数值计算方法比较 | 第21-24页 |
| 2.2 无损界面电场仿真分析 | 第24-32页 |
| 2.2.1 ANSOFT软件以及在静电场中应用 | 第24-26页 |
| 2.2.2 界面有限元建模与求解分析 | 第26-32页 |
| 2.3 实验系统的设计 | 第32-36页 |
| 2.3.1 高压脉冲发生器的设计 | 第32-34页 |
| 2.3.2 复合实验样品的设计 | 第34-35页 |
| 2.3.3 实验平台的设计 | 第35-36页 |
| 2.4 实验步骤 | 第36-37页 |
| 2.5 无损界面放电破坏的一般过程 | 第37-39页 |
| 2.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 3 界面气隙类缺陷对界面电场分布及其电痕破坏的影响 | 第40-55页 |
| 3.1 界面气隙概述 | 第40-41页 |
| 3.2 界面粗糙度对界面绝缘击穿的影响 | 第41-49页 |
| 3.2.1 实验平台与样品配置 | 第41-42页 |
| 3.2.2 界面建模与放电实验 | 第42-43页 |
| 3.2.3 实验结果分析 | 第43-49页 |
| 3.3 界面划痕对界面绝缘的影响 | 第49-54页 |
| 3.3.1 实验平台与样品配置 | 第49-50页 |
| 3.3.2 界面建模与放电实验 | 第50-51页 |
| 3.3.3 实验结果分析 | 第51-54页 |
| 3.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 4 界面内容物对界面电场分布及其电痕破坏的影响 | 第55-63页 |
| 4.1 界面导电屑对界面绝缘击穿的影响 | 第55-59页 |
| 4.1.1 实验平台与样品配置 | 第55页 |
| 4.1.2 界面建模与放电实验 | 第55-56页 |
| 4.1.3 实验结果分析 | 第56-59页 |
| 4.2 界面硅脂对界面绝缘击穿的影响 | 第59-62页 |
| 4.2.1 硅脂性能概述 | 第59-60页 |
| 4.2.2 实验平台与样品配置 | 第60页 |
| 4.2.3 界面建模与放电实验 | 第60页 |
| 4.2.4 实验结果分析 | 第60-62页 |
| 4.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 5 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 总结 | 第63页 |
| 5.2 展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文及取得的研究成果 | 第69页 |