面向芯核电路版权保护的水印方法与盲检测技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 课题背景和意义 | 第10-14页 |
| 1.3 研究内容和本文的组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 相关研究工作 | 第16-34页 |
| 2.1 FPGA概述 | 第16-21页 |
| 2.1.1 FPGA内部结构 | 第17-19页 |
| 2.1.2 FPGA的基本开发流程 | 第19-21页 |
| 2.2 芯核水印版权保护技术 | 第21-27页 |
| 2.2.1 基于LUT的物理级芯核水印技术 | 第23-25页 |
| 2.2.2 基于FSM的行为级芯核水印技术 | 第25-26页 |
| 2.2.3 基于扫描链的芯核水印技术 | 第26-27页 |
| 2.3 数字芯核水印检测技术 | 第27-31页 |
| 2.3.1 零知识协议概述 | 第28-29页 |
| 2.3.2 基于零知识协议的芯核水印盲检测技术 | 第29-31页 |
| 2.4 芯核水印性能相关评估参数 | 第31-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 一种高聚合度的互映射芯核水印算法 | 第34-46页 |
| 3.1 问题描述 | 第34-35页 |
| 3.2 相关概念介绍 | 第35-37页 |
| 3.2.1 芯核水印技术 | 第35页 |
| 3.2.2 秘密分割原理概述 | 第35-37页 |
| 3.3 互映射FPGA芯核水印算法 | 第37-42页 |
| 3.3.1 互映射芯核水印算法模型 | 第37页 |
| 3.3.2 水印生成算法 | 第37-38页 |
| 3.3.3 水印嵌入算法 | 第38-41页 |
| 3.3.4 水印提取算法 | 第41-42页 |
| 3.3.5 水印重构算法 | 第42页 |
| 3.4 实验结果及分析 | 第42-44页 |
| 3.4.1 资源开销对比 | 第42-43页 |
| 3.4.2 重构能力评估 | 第43-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 基于模糊位置的芯核水印快速盲检测方案 | 第46-62页 |
| 4.1 问题描述 | 第46-48页 |
| 4.2 相关概念介绍 | 第48-50页 |
| 4.2.1 Kent混沌映射系统 | 第48-49页 |
| 4.2.2 模糊映射函数 | 第49-50页 |
| 4.3 芯核水印快速盲检测交互模型 | 第50-51页 |
| 4.4 芯核水印快速盲检测详细算法 | 第51-56页 |
| 4.4.1 初始化阶段 | 第51-52页 |
| 4.4.2 全局位置置乱阶段 | 第52-53页 |
| 4.4.3 模糊位置置乱阶段 | 第53-55页 |
| 4.4.4 水印质询阶段 | 第55-56页 |
| 4.5 安全性分析 | 第56-57页 |
| 4.5.1 重放攻击 | 第56-57页 |
| 4.5.2 位置置乱不可逆性分析 | 第57页 |
| 4.6 实验结果分析与比较 | 第57-61页 |
| 4.6.1 位置置换鲁棒性 | 第58-59页 |
| 4.6.2 位置置换复杂度 | 第59-61页 |
| 4.7 本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 5.1 全文总结 | 第62-63页 |
| 5.2 展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 附录A （攻读学位期间发表论文目录） | 第68-70页 |
| 攻读学位期间发表的论文与科研成果清单 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
