| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-24页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-22页 |
| 1.1.1 相控阵天线研究背景概述 | 第10-12页 |
| 1.1.2 拓宽相控阵扫描角度的国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.1.3 方向图可重构技术的国内外研究现状 | 第16-22页 |
| 1.2 论文安排 | 第22-24页 |
| 第2章 天线及阵列相关理论概述 | 第24-33页 |
| 2.1 天线基本原理 | 第24-31页 |
| 2.1.1 天线基本分析方法 | 第24-27页 |
| 2.1.2 天线的基本参数 | 第27-31页 |
| 2.2 相控阵相关理论 | 第31-32页 |
| 2.2.1 相控阵天线扫描原理 | 第31页 |
| 2.2.2 相控阵天线增益衰落分析 | 第31-32页 |
| 2.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 方向图可重构天线单元研究 | 第33-42页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 方向图可重构天线单元 | 第33-35页 |
| 3.2.1 方向图可重构天线设计指标 | 第33页 |
| 3.2.2 方向图可重构天线设计结构 | 第33-34页 |
| 3.2.3 方向图可重构天线重构模式 | 第34-35页 |
| 3.3 方向图可重构天线仿真实验与分析 | 第35-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-42页 |
| 第4章 基于方向图可重构技术的大角度扫描相控阵 | 第42-58页 |
| 4.1 引言 | 第42页 |
| 4.2 高增益、窄波束方向图可重构天线单元 | 第42-47页 |
| 4.2.1 介质埋藏微带天线 | 第42-43页 |
| 4.2.2 方向图可重构天线设计参数指标 | 第43页 |
| 4.2.3 方向图可重构天线结构 | 第43-44页 |
| 4.2.4 方向图可重构天线仿真实验与分析 | 第44-47页 |
| 4.3 具有高增益、窄波束方向图可重构阵元的大角度扫描相控阵天线 | 第47-56页 |
| 4.3.1 10阵元均匀相控阵仿真实验与分析 | 第47-50页 |
| 4.3.2 20阵元均匀相控阵仿真实验与分析 | 第50-53页 |
| 4.3.3 50阵元均匀相控阵仿真实验与分析 | 第53-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-58页 |
| 第5章 基于方向图可重构技术的超大角度扫描相控阵 | 第58-72页 |
| 5.1 引言 | 第58页 |
| 5.2 大偏转角度的方向图可重构天线单元 | 第58-62页 |
| 5.2.1 方向图可重构天线设计参数指标 | 第58-59页 |
| 5.2.2 方向图可重构天线结构 | 第59页 |
| 5.2.3 方向图可重构天线仿真实验与分析 | 第59-62页 |
| 5.3 具有大偏转角度的方向图可重构阵元的超大角度扫描相控阵天线 | 第62-70页 |
| 5.3.1 10阵元均匀相控阵仿真实验与分析 | 第62-65页 |
| 5.3.2 20阵元均匀相控阵仿真实验与分析 | 第65-67页 |
| 5.3.3 50阵元均匀相控阵仿真实验与分析 | 第67-70页 |
| 5.4 本章小结 | 第70-72页 |
| 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-78页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80页 |