| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状及动态 | 第11-14页 |
| 1.2.1 雾霾的理化特性及模拟装置的研究 | 第11-12页 |
| 1.2.2 雾霾对绝缘子沿面闪络特性及击穿特性影响的研究 | 第12-14页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第2章 雾霾与非雾霾环境下交流绝缘子自然积污差异 | 第16-24页 |
| 2.1 试验样品及试验方法 | 第16-19页 |
| 2.2 试验结果及分析 | 第19-23页 |
| 2.2.1 污秽颗粒物粒径分布 | 第19-20页 |
| 2.2.2 等值盐密及等值灰密 | 第20-22页 |
| 2.2.3 污秽可溶性无机盐成分 | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 雾霾污秽对玻璃平板工频沿面闪络特性的影响 | 第24-36页 |
| 3.1 试验装置及测试系统 | 第24-31页 |
| 3.1.1 试验装置 | 第24-27页 |
| 3.1.2 温度控制 | 第27-28页 |
| 3.1.3 湿度控制 | 第28-30页 |
| 3.1.4 悬浮颗粒物浓度控制 | 第30-31页 |
| 3.2 试验方案 | 第31-33页 |
| 3.3 试验结果及分析 | 第33-35页 |
| 3.3.1 灰盐比玻璃平板工频沿面闪络特性的影响 | 第33-34页 |
| 3.3.2 硝酸盐玻璃平板工频沿面闪络特性的影响 | 第34-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 雾霾环境下玻璃平板的工频沿面闪络特性 | 第36-50页 |
| 4.1 试验方案 | 第36-38页 |
| 4.2 悬浮颗粒物浓度对玻璃平板工频沿面闪络特性的影响 | 第38-42页 |
| 4.2.1 饱和泄漏电流 | 第38-39页 |
| 4.2.2 沿面闪络电压 | 第39-41页 |
| 4.2.3 分析与讨论 | 第41-42页 |
| 4.3 相对湿度对玻璃平板工频沿面闪络特性的影响 | 第42-45页 |
| 4.3.1 饱和泄漏电流 | 第42-43页 |
| 4.3.2 沿面闪络电压 | 第43-45页 |
| 4.3.3 分析与讨论 | 第45页 |
| 4.4 污秽等级对玻璃平板工频沿面闪络特性的影响 | 第45-48页 |
| 4.4.1 饱和泄漏电流 | 第45-47页 |
| 4.4.2 沿面闪络电压 | 第47-48页 |
| 4.4.3 分析与讨论 | 第48页 |
| 4.5 本章小结 | 第48-50页 |
| 第5章 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-55页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第55-56页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研工作 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57页 |