| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-14页 |
| 缩略语对照表 | 第14-19页 |
| 第一章 绪论 | 第19-25页 |
| 1.1 研究的背景和意义 | 第19-21页 |
| 1.2 国内外集成电路测试的发展现状与数据转换器测试面临的问题 | 第21-23页 |
| 1.2.1 国内外集成电路测试的发展现状 | 第21-22页 |
| 1.2.2 高精度数据转换器的测试面临的难点 | 第22-23页 |
| 1.3 论文主要研究内容和组织结构 | 第23-25页 |
| 第二章 ADC测试方法研究 | 第25-37页 |
| 2.1 ADC概述 | 第25-26页 |
| 2.2 ADC性能参数 | 第26-29页 |
| 2.2.1 ADC静态性能参数 | 第27-28页 |
| 2.2.2 ADC动态性能参数 | 第28-29页 |
| 2.3 ADC测试方法研究 | 第29-36页 |
| 2.3.1 静态测试 | 第29-31页 |
| 2.3.2 动态测试 | 第31-36页 |
| 2.3.3 国内外的相关研究介绍和本文所采用的方法 | 第36页 |
| 2.4 小结 | 第36-37页 |
| 第三章 DAC测试方法研究 | 第37-45页 |
| 3.1 DAC概述 | 第37-38页 |
| 3.2 DAC性能参数 | 第38-41页 |
| 3.2.1 DAC静态性能参数 | 第38-40页 |
| 3.2.2 DAC动态性能参数 | 第40-41页 |
| 3.3 DAC测试方法研究 | 第41-43页 |
| 3.3.1 静态测试 | 第41-42页 |
| 3.3.2 动态测试 | 第42页 |
| 3.3.3 国内外的相关研究介绍和本文所采用的方法 | 第42-43页 |
| 3.4 小结 | 第43-45页 |
| 第四章 测试开发板程序设计 | 第45-59页 |
| 4.1 FPGA开发板 | 第45-47页 |
| 4.2 FPGA程序设计 | 第47-57页 |
| 4.2.1 ADC测试程序设计 | 第50-53页 |
| 4.2.2 DAC测试程序设计 | 第53-57页 |
| 4.3 小结 | 第57-59页 |
| 第五章 LabVIEW控制软件设计 | 第59-71页 |
| 5.1 LabVIEW概述 | 第59页 |
| 5.2 数据打包模块设计 | 第59-63页 |
| 5.2.1 ADC测试数据收/发打包控制 | 第60-62页 |
| 5.2.2 DAC测试数据发送打包控制 | 第62-63页 |
| 5.3 ADC测试控制界面设计 | 第63-67页 |
| 5.4 DAC测试控制界面设计 | 第67-69页 |
| 5.4.1 DAC动态测试控制界面设计 | 第67-69页 |
| 5.4.2 DAC静态测试控制界面设计 | 第69页 |
| 5.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 第六章 测试平台评估 | 第71-83页 |
| 6.1 测试中用到的仪器设备 | 第71-75页 |
| 6.1.1 ADC测试主要用到的仪器和设备列表如下： | 第71页 |
| 6.1.2 DAC测试主要用到的仪器和设备列表 | 第71-72页 |
| 6.1.3 时钟分配板 | 第72-75页 |
| 6.2 开发板评估 | 第75-78页 |
| 6.2.1 XMD_1616测试结果 | 第75-77页 |
| 6.2.2 XMD_1615测试结果 | 第77-78页 |
| 6.3 测试注意点及误差分析 | 第78-80页 |
| 6.3.1 测试注意点 | 第78-80页 |
| 6.3.2 测试平台的误差分析和不足 | 第80页 |
| 6.4 测试平台改进设计 | 第80-81页 |
| 6.5 小结 | 第81-83页 |
| 第七章 总结和展望 | 第83-87页 |
| 7.1 工作总结 | 第83-84页 |
| 7.2 前景展望 | 第84-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 致谢 | 第91-93页 |
| 作者简介 | 第93-94页 |
