| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景及目的 | 第11页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第11-13页 |
| 1.3 高精度图像测量技术基础 | 第13-14页 |
| 1.4 图像测量误差因素分析 | 第14-16页 |
| 1.4.1 硬件因素 | 第14-15页 |
| 1.4.2 环境因素 | 第15-16页 |
| 1.4.3 软件算法因素 | 第16页 |
| 1.5 论文的主要研究内容和章节安排 | 第16-19页 |
| 第二章 测量系统的构成 | 第19-33页 |
| 2.1 测量系统的整体框架 | 第19-26页 |
| 2.1.1 光栅尺传感器 | 第20-24页 |
| 2.1.2 CCD相机传感器 | 第24-26页 |
| 2.2 测量系统工作流程 | 第26页 |
| 2.3 测量系统标定校正 | 第26-27页 |
| 2.3.1 CCD相机安装校正 | 第26-27页 |
| 2.3.2 光栅尺垂直度校正 | 第27页 |
| 2.4 图像畸变校正 | 第27-32页 |
| 2.4.1 仿射变换 | 第28-29页 |
| 2.4.2 特征点提取 | 第29-31页 |
| 2.4.3 实验结果分析 | 第31-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 基于光栅尺的图像拼接技术 | 第33-51页 |
| 3.1 图像拼接的定义和研究现状 | 第33-34页 |
| 3.1.1 图像拼接的定义 | 第33页 |
| 3.1.2 图像拼接的研究现状及算法分类 | 第33-34页 |
| 3.2 基于光栅尺的等距图像拼接技术 | 第34-38页 |
| 3.2.1 算法描述 | 第35-36页 |
| 3.2.2 等距图像拼接原理 | 第36-38页 |
| 3.3 图像灰度图转换 | 第38-39页 |
| 3.4 图像拼接域融合 | 第39-46页 |
| 3.4.1 图像融合 | 第40-46页 |
| 3.5 图像拼接实验 | 第46-49页 |
| 3.5.1 实验装置描述 | 第46-47页 |
| 3.5.2 实验数据 | 第47-48页 |
| 3.5.3 图像拼接结果 | 第48-49页 |
| 3.6 本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 基于SIFT和最佳缝合线的图像拼接技术 | 第51-71页 |
| 4.1 引言 | 第51页 |
| 4.2 SIFT特征匹配 | 第51-60页 |
| 4.2.1 关键点检测 | 第51-56页 |
| 4.2.2 关键点描述 | 第56-58页 |
| 4.2.3 关键点匹配 | 第58-59页 |
| 4.2.4 关键点搜索 | 第59-60页 |
| 4.3 RANSAC算法 | 第60-62页 |
| 4.3.1 RANSAC算法简介 | 第60-61页 |
| 4.3.2 RANSAC算法效率 | 第61页 |
| 4.3.3 RANSAC算法误差 | 第61-62页 |
| 4.4 最佳缝合线 | 第62-67页 |
| 4.4.1 最佳缝合线算法 | 第62-65页 |
| 4.4.2 最佳缝合线搜索准则 | 第65-67页 |
| 4.5 实验结果分析 | 第67-69页 |
| 4.6 本章小结 | 第69-71页 |
| 第五章 亚像素细分算法 | 第71-91页 |
| 5.1 亚像素定位原理 | 第71-73页 |
| 5.2 亚像素定位算法分类 | 第73-84页 |
| 5.2.1 基于拟合的亚像素算法 | 第73-78页 |
| 5.2.1.1 Gauss拟合 | 第73-77页 |
| 5.2.1.2 多项式拟合 | 第77-78页 |
| 5.2.2 基于插值的亚像素算法 | 第78-80页 |
| 5.2.2.1 三次样条函数插值 | 第78-80页 |
| 5.2.2.2 多项式插值法 | 第80页 |
| 5.2.3 基于矩的亚像素算法 | 第80-84页 |
| 5.2.3.1 灰度矩 | 第81-82页 |
| 5.2.3.2 空间矩 | 第82-84页 |
| 5.3 亚像素细分和Sobel边缘检测精度对比实验 | 第84-86页 |
| 5.4 工件尺寸测量实验 | 第86-89页 |
| 5.4.1 图像比例尺测定 | 第86-87页 |
| 5.4.2 工件尺寸测量 | 第87-89页 |
| 5.5 本章小结 | 第89-91页 |
| 第六章 总结 | 第91-93页 |
| 参考文献 | 第93-97页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第97-99页 |
| 致谢 | 第99页 |