基于CCD的三轴相交度测量原理与装置方案设计的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| ·课题来源及研究的目的意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-13页 |
| ·轴线相交度测量方法 | 第9-10页 |
| ·转轴回转误差测量方法 | 第10-11页 |
| ·图像测量技术 | 第11-13页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 测量原理与方案设计 | 第14-27页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·测量系统基准坐标系 | 第14-16页 |
| ·相机成像模型 | 第14-15页 |
| ·空间点位置测量方法及坐标系建立 | 第15-16页 |
| ·回转轴线测量 | 第16-19页 |
| ·与相机光轴平行的轴线的测量 | 第17页 |
| ·与相机光轴垂直的轴线的测量 | 第17-19页 |
| ·测量方案设计 | 第19-25页 |
| ·测量装置结构 | 第20-21页 |
| ·成像系统设计 | 第21-22页 |
| ·测量装置满足的要求 | 第22-24页 |
| ·三轴相交度测量过程 | 第24-25页 |
| ·影响测量精度的因素 | 第25-26页 |
| ·成像系统 | 第25页 |
| ·转轴间不正交度的影响 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 被测靶标图像处理 | 第27-44页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·滤波降噪 | 第27-30页 |
| ·邻域平均法 | 第28-29页 |
| ·中值滤波法 | 第29-30页 |
| ·边缘检测 | 第30-33页 |
| ·一阶微分算子 | 第30-32页 |
| ·二阶微分算子 | 第32-33页 |
| ·HOUGH 变换直线检测 | 第33-36页 |
| ·亚像素边缘定位研究 | 第36-42页 |
| ·亚像素定位原理 | 第37页 |
| ·几种亚像素定位算法 | 第37-40页 |
| ·亚像素边缘定位精度研究 | 第40-42页 |
| ·特征点定位 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 转轴回转误差与三轴相交度计算 | 第44-52页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·转轴回转运动分析 | 第44-45页 |
| ·转轴回转误差评定方法 | 第45-50页 |
| ·最小二乘圆法 | 第46-47页 |
| ·最小区域圆法 | 第47-50页 |
| ·三轴相交度计算 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 实验及误差分析 | 第52-57页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·转轴轴线测量验证性实验 | 第52-55页 |
| ·误差分析 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
