| 摘要 | 第1-9页 |
| Abstract | 第9-13页 |
| 目录 | 第13-18页 |
| 第1章 绪论 | 第18-49页 |
| ·问题的提出及研究意义 | 第18-25页 |
| ·我国超、特高压电网建设迅速 | 第18-19页 |
| ·绝缘子污闪特性的研究意义 | 第19-22页 |
| ·绝缘子冰闪特性研究意义 | 第22-24页 |
| ·超、特高压线路绝缘子串电位和电场分布研究意义 | 第24-25页 |
| ·绝缘子污闪特性研究现状 | 第25-32页 |
| ·污秽度对绝缘子污闪电压的影响 | 第26-28页 |
| ·特高压交流绝缘子污闪特性 | 第28-30页 |
| ·污秽条件下交流线路绝缘子选择方法 | 第30-32页 |
| ·绝缘子冰闪特性研究现状 | 第32-42页 |
| ·绝缘子冰闪特性研究概况 | 第32-40页 |
| ·提高绝缘子冰闪电压措施研究概况 | 第40-42页 |
| ·交流线路绝缘子串电位和电场分布数值分析研究现状 | 第42-48页 |
| ·等效电路法 | 第42-43页 |
| ·模拟电荷法(Charge Simulation Method—CSM) | 第43-44页 |
| ·有限元法(Finite Element Method—FEM) | 第44-45页 |
| ·边界元法(Boundary Element Method—BEM) | 第45-47页 |
| ·耦合方法 | 第47-48页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第48-49页 |
| 第2章 特高压交流线路长串绝缘子污闪特性研究 | 第49-64页 |
| ·试验设备、绝缘子参数和试验方法 | 第50-53页 |
| ·试验设备 | 第50-52页 |
| ·绝缘子参数 | 第52页 |
| ·试验方法 | 第52-53页 |
| ·单Ⅰ串绝缘子的污闪特性 | 第53-59页 |
| ·ESDD对瓷和玻璃绝缘子污耐压特性的影响 | 第54-56页 |
| ·NSDD对瓷和玻璃绝缘子污耐压特性的影响 | 第56-57页 |
| ·上下表面不均匀积污比对污耐压特性的影响 | 第57-59页 |
| ·复合绝缘子耐受特性 | 第59页 |
| ·双Ⅰ串绝缘子的污闪特性 | 第59-60页 |
| ·瓷和玻璃绝缘子污耐压特性 | 第59-60页 |
| ·复合绝缘子耐受特性 | 第60页 |
| ·单Ⅴ串绝缘子的污闪特性 | 第60-61页 |
| ·瓷和玻璃绝缘子污耐压特性 | 第60-61页 |
| ·复合绝缘子耐受特性 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-64页 |
| 第3章 污秽条件下特高压交流线路绝缘子选型研究 | 第64-81页 |
| ·淮南—上海1000 kV交流同塔双回线路所经路径污区情况 | 第64-66页 |
| ·淮南—上海1000 kV交流同塔双回线路概况 | 第64-65页 |
| ·沿线污区分布情况 | 第65页 |
| ·污秽成分分析 | 第65-66页 |
| ·将等值附盐密度ESDD修正为附盐密度SDD | 第66页 |
| ·污秽条件下绝缘子选择方法 | 第66-69页 |
| ·爬电比距法 | 第66-67页 |
| ·污耐受电压法 | 第67-69页 |
| ·1000kV同塔双回线路绝缘子串配置 | 第69-79页 |
| ·一些计算参数的确定 | 第69-72页 |
| ·单Ⅰ串绝缘子选择 | 第72-76页 |
| ·双Ⅰ串绝缘子选择 | 第76-77页 |
| ·单Ⅴ串绝缘子选择 | 第77-78页 |
| ·复合绝缘子选择 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-81页 |
| 第4章 超高压线路长串绝缘子冰闪特性研究 | 第81-98页 |
| ·试验设备、绝缘子参数和试验方法 | 第81-86页 |
| ·试验设备 | 第82-83页 |
| ·绝缘子参数 | 第83-84页 |
| ·试验方法 | 第84-86页 |
| ·长串绝缘子冰闪放电过程及影响因素 | 第86-90页 |
| ·放电过程 | 第86-88页 |
| ·有无均压环和模拟导线对覆冰状态及放电过程的比较 | 第88-90页 |
| ·影响覆冰绝缘子闪络的因素 | 第90页 |
| ·污秽度对冰闪电压的影响 | 第90-93页 |
| ·闪络电压分析 | 第90-91页 |
| ·与污闪电压比较 | 第91-93页 |
| ·长串绝缘子冰闪泄漏电流分析 | 第93-94页 |
| ·绝缘子串长对冰闪电压的影响 | 第94-95页 |
| ·插花布置提高冰闪电压性能 | 第95-96页 |
| ·本章小结 | 第96-98页 |
| 第5章 有限元与边界元耦合算法和子域逼近有限元法 | 第98-118页 |
| ·静电场问题 | 第99-101页 |
| ·静电场问题描述 | 第99-100页 |
| ·无穷远边界条件 | 第100页 |
| ·悬浮电位导体 | 第100-101页 |
| ·加权余量法 | 第101-103页 |
| ·有限元法原理及特点 | 第103-106页 |
| ·有限元法的主要特征 | 第103页 |
| ·有限元法方程离散过程 | 第103-106页 |
| ·子域逼近有限元法 | 第106页 |
| ·边界元法原理及特点 | 第106-112页 |
| ·边界元法的主要特征 | 第107页 |
| ·边界元法方程离散过程 | 第107-112页 |
| ·三维有限元与边界元耦合算法 | 第112-114页 |
| ·等效有限元算法 | 第113-114页 |
| ·等效边界元算法 | 第114页 |
| ·区域分解算法 | 第114页 |
| ·CEMLAB软件平台及算法在平台上的实现 | 第114-117页 |
| ·CEMLAB平台简介 | 第115-116页 |
| ·在CEMLAB平台上分析问题的过程 | 第116-117页 |
| ·本章小结 | 第117-118页 |
| 第6章 超高压绝缘子覆冰试验布置电位和电场分布计算 | 第118-133页 |
| ·相关计算参数 | 第118-120页 |
| ·计算资源 | 第118页 |
| ·绝缘子 | 第118-119页 |
| ·均压环 | 第119页 |
| ·杆塔 | 第119-120页 |
| ·导线 | 第120页 |
| ·FEM—BEM耦合算法处理无穷远边界问题的验证 | 第120-123页 |
| ·计算模型 | 第120-121页 |
| ·计算结果分析 | 第121-123页 |
| ·覆冰试验不同配置方式对绝缘子串电位和电场分布的影响 | 第123-126页 |
| ·计算模型 | 第123-124页 |
| ·计算结果分析 | 第124-126页 |
| ·环境气候试验室罐体的影响 | 第126-128页 |
| ·计算模型 | 第126页 |
| ·计算结果分析 | 第126-128页 |
| ·与实际线路真型配置对比 | 第128-132页 |
| ·计算模型 | 第128-130页 |
| ·计算结果分析 | 第130-132页 |
| ·本章小结 | 第132-133页 |
| 第7章 特高压交流线路绝缘子串电位和电场分布计算 | 第133-146页 |
| ·计算参数 | 第134-136页 |
| ·绝缘子 | 第134页 |
| ·均压环 | 第134-135页 |
| ·杆塔 | 第135-136页 |
| ·导线 | 第136页 |
| ·单Ⅰ串复合绝缘子的电位和电场分布 | 第136-138页 |
| ·计算模型 | 第136页 |
| ·计算结果分析 | 第136-138页 |
| ·双Ⅰ串复合绝缘子的电位和电场分布 | 第138-140页 |
| ·计算模型 | 第138-139页 |
| ·计算结果分析 | 第139-140页 |
| ·单Ⅴ串复合绝缘子的电位和电场分布 | 第140-142页 |
| ·计算模型 | 第140-141页 |
| ·计算结果分析 | 第141-142页 |
| ·三种串型沿轴线的电压和电场分布比较 | 第142-144页 |
| ·均压环表面电场强度计算 | 第144-145页 |
| ·本章小结 | 第145-146页 |
| 第8章 结论与展望 | 第146-151页 |
| ·全文总结 | 第146-149页 |
| ·展望 | 第149-151页 |
| 参考文献 | 第151-164页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第164-166页 |
| 致谢 | 第166-167页 |
