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用于光电检测的集成低噪声放大器设计

摘要第1-4页
Abstract第4-5页
目录第5-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·论文的背景及意义第7-8页
   ·论文的主要工作第8-11页
第二章 噪声理论第11-19页
   ·噪声基础第11-13页
     ·噪声的统计特征第11页
     ·电路噪声表征方法第11-13页
   ·电路噪声的分类及其特点第13-15页
     ·固有噪声第13-14页
     ·外部噪声第14-15页
   ·CMOS电路中的主要噪声及其模型第15-17页
     ·热噪声第15-16页
     ·闪烁噪声(1/f噪声)第16-17页
   ·小结第17-19页
第三章 低噪声设计技术第19-39页
   ·电路结构的优化第19-22页
     ·放大器结构的优化第19-20页
     ·采用横向双极型晶体管第20-22页
   ·自动调零技术第22-26页
     ·自动调零技术对失调的影响第23-24页
     ·自动调零技术对噪声的影响第24-26页
   ·相关双采样技术第26-27页
   ·斩波稳定技术第27-37页
     ·斩波稳定技术调制机理第28-30页
     ·斩波稳零技术对失调的影响第30-31页
     ·斩波稳零技术对噪声的影响第31-34页
     ·斩波稳定技术的非理想效应第34-37页
   ·小结第37-39页
第四章 低噪声放大电路的设计与实现第39-65页
   ·低噪声放大电路的总体方案和设计目标第39-41页
     ·低噪声放大电路结构第39-40页
     ·低噪声放大电路的设计目标第40-41页
   ·低噪声放大电路的具体设计第41-54页
     ·CMOS运算放大器第41-44页
     ·前置放大器第44-46页
     ·高通滤波器第46-47页
     ·解调器的设计第47-49页
     ·开关电容低通滤波器(SCF)的设计第49-52页
     ·电路整体仿真第52-54页
   ·版图设计第54-58页
   ·低噪声放大电路的测试第58-62页
     ·测试环境搭建第58-59页
     ·测试结果分析第59-62页
   ·小结第62-65页
第五章 总结与展望第65-67页
致谢第67-69页
参考文献第69-71页

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