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低压键合技术及其机理研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-7页
致谢第7-10页
插图清单第10-12页
表格清单第12-13页
第一章 绪论第13-21页
   ·引言第13页
   ·发展简史第13-14页
   ·流体在微纳流控系统中的基本特征第14-15页
   ·传统微流体芯片制作技术第15-18页
     ·自下向上方法-牺牲层技术第15-17页
     ·自上向下方法-镀膜沉积法第17-18页
   ·传统加工方法的一些缺点第18-19页
   ·课题研究内容第19-21页
第二章 低压键合技术第21-39页
   ·键合技术分类及基本原理第21-23页
     ·键合技术分类第21-22页
     ·聚合物键合机理第22-23页
     ·键合一般步骤条件第23页
   ·低压键合技术第23-24页
   ·实验方案及实验步骤第24-32页
     ·主要材料和设备介绍第25-26页
     ·PDMS 印章制作步骤第26-28页
     ·实际软压印过程第28-30页
     ·低压键合过程第30-32页
   ·实验关键步骤分析第32-34页
     ·PDMS 印章及压印过程关键步骤第32页
     ·制作 PET 双层胶结构过程关键步骤第32-33页
     ·低压键合过程关键步骤第33-34页
   ·实验结果及分析第34-36页
   ·流体测试结果第36-38页
   ·本章小结第38-39页
第三章 低压键合过程流动机理的研究第39-57页
   ·毛细力下的顶部填充现象第39-40页
     ·热键合顶部填充机理第39-40页
     ·微纳通道中毛细现象的特点第40页
   ·纯毛细现象下流体在微纳通道中流动分析计算第40-46页
     ·纯毛细现象下流体流动速率公式的推导第40-44页
     ·纯毛细现象下,不同参数对上升速率的影响第44-46页
   ·在毛细和挤压共同作用下流体的流动第46-50页
     ·毛细和挤压共同作用下流体流动速率公式第46-47页
     ·毛细和挤压共同作用时对流体上升速率的影响程度分析第47-50页
   ·有限元模拟和实验结果分析对比第50-56页
     ·纯毛细力下模拟及实验对比第51-52页
     ·低压低温键合条件下的键合效果第52-53页
     ·初始胶层厚度及通道宽度对填充过程的影响第53-56页
   ·本章小结第56-57页
第四章 结构优化设计第57-66页
   ·键合过程中压力对聚合物填充的影响第57页
   ·膨胀中心线的存在第57-60页
   ·应变有限元分析计算第60-63页
   ·顶部填充阻隔器的设计第63-65页
   ·本章小结第65-66页
第五章 结论与展望第66-68页
   ·全文总结第66页
   ·不足与期望第66-67页
   ·该技术未来发展展望第67-68页
参考文献第68-72页
攻读硕士学位期间发表的论文第72页
攻读硕士学位期间参与的研究项目第72-73页

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