| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 1 绪论 | 第11-17页 |
| ·射频识别技术的历史与现状 | 第11-13页 |
| ·UHF频段的RFID原理简介 | 第13-14页 |
| ·新问题的提出 | 第14-15页 |
| ·本论文结构安排 | 第15-17页 |
| 2 RFID标签的理论基础及建模仿真分析 | 第17-35页 |
| ·标签天线的辐射与接收 | 第17-24页 |
| ·基本电流元的辐射场 | 第17-20页 |
| ·天线的互易性原理 | 第20-21页 |
| ·天线的主要电参数 | 第21-24页 |
| ·标签天线的工作原理 | 第24-29页 |
| ·雷达散射截面(RCS)原理 | 第24-25页 |
| ·标签天线的雷达散射截面 | 第25-27页 |
| ·标签的调制工作方式 | 第27-29页 |
| ·标签天线的仿真分析 | 第29-34页 |
| ·标签A的仿真分析 | 第30-32页 |
| ·标签B的仿真分析 | 第32-33页 |
| ·仿真分析的总结 | 第33-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 3 RFID标签性能测试的原理和方法 | 第35-44页 |
| ·RFID标签的相关国际标准 | 第35-36页 |
| ·RFID标签性能测试基本原理 | 第36页 |
| ·RFID标签性能测试的实现方法 | 第36-40页 |
| ·读标签最小电场强度值(E_(Min_Read)) | 第37页 |
| ·写标签电场最小电场强度值(E_(Min_Write)) | 第37页 |
| ·标签灵敏度 | 第37-38页 |
| ·最大操作电场强度值(E_(max))和存活电场强度值(E_(survival)) | 第38页 |
| ·抗干扰能力(P_(Noise)) | 第38-39页 |
| ·标签移动最大衰落率(F_(rate)) | 第39-40页 |
| ·标签互操作性能测试的实现方法 | 第40-41页 |
| ·标签芯片一致性能测试的实现方法 | 第41-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 4 RFID标签性能测试系统的建立 | 第44-62页 |
| ·测试系统的整体设计方案 | 第44-47页 |
| ·收发天线分置法 | 第44-45页 |
| ·环行器隔离信号法 | 第45-46页 |
| ·测试系统所需环境 | 第46-47页 |
| ·测试系统所用天线的仿真与制作 | 第47-58页 |
| ·测试系统采用的双天线形式和种类 | 第47-48页 |
| ·螺旋天线的原理及设计 | 第48-51页 |
| ·螺旋天线的仿真 | 第51-56页 |
| ·螺旋天线的制作及实测结果 | 第56-58页 |
| ·测试系统的整体搭建 | 第58-61页 |
| ·小结 | 第61-62页 |
| 5 RFID标签性能测试系统的实际测试及结果分析 | 第62-67页 |
| ·测量读和写标签最小电场强度值(E_(Min_Read))、(E_(Min_Write)) | 第62-63页 |
| ·测量标签灵敏度 | 第63-64页 |
| ·最大操作电场强度值(E_(max))和存活电场强度值(E_(survival)) | 第64页 |
| ·抗干扰能力(E_(Noise)) | 第64-65页 |
| ·标签移动最大衰落率(F_(rate)) | 第65-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 6 总结和展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 学位论文数据集 | 第71页 |
