| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·压电特性简介 | 第8-10页 |
| ·压电陶瓷材料的发展历史和现状 | 第10-13页 |
| ·压电陶瓷材料的发展历史 | 第10-11页 |
| ·PZT 压电陶瓷材料的发展现状 | 第11-13页 |
| 第二章 PZT 压电陶瓷及工艺简介 | 第13-23页 |
| ·PZT 压电陶瓷 | 第13-19页 |
| ·PZT 压电陶瓷简介 | 第13-14页 |
| ·准同型相界(MPB) | 第14-15页 |
| ·PZT 压电陶瓷掺杂改性机理 | 第15-16页 |
| ·PZT 压电陶瓷的主要性能参数 | 第16-19页 |
| ·PZT 压电陶瓷工艺简介 | 第19-21页 |
| ·固相法 | 第19-20页 |
| ·液相法 | 第20-21页 |
| ·工作内容和研究目的 | 第21-23页 |
| 第三章 干－干法制备PZTMN 材料及性能测试分析 | 第23-39页 |
| ·制备过程 | 第23-35页 |
| ·先驱体工艺简介 | 第23-25页 |
| ·粉料制备 | 第25-31页 |
| ·黏合剂PVA 的制备 | 第31-32页 |
| ·压片工艺 | 第32页 |
| ·烧结成瓷 | 第32-33页 |
| ·样品的被银 | 第33-34页 |
| ·最终确定的工艺方案 | 第34-35页 |
| ·PZTMN 陶瓷材料的性能参数测试和分析 | 第35-38页 |
| ·测试方案 | 第35-36页 |
| ·烧结温度对材料性能的影响 | 第36-37页 |
| ·不同Zr/Ti 对材料性能的影响 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 干－干法制备PZT 复合材料 | 第39-51页 |
| ·制备过程 | 第39-42页 |
| ·材料体系 | 第39页 |
| ·黏合剂PVA 的制备 | 第39页 |
| ·压片及压力学试条工艺 | 第39页 |
| ·烧结成瓷工艺 | 第39-40页 |
| ·样品的被银 | 第40-41页 |
| ·最终确定的工艺方案 | 第41-42页 |
| ·反应过程中的物相变化 | 第42页 |
| ·电学性能测试 | 第42-45页 |
| ·测试方案 | 第42页 |
| ·烧结温度对性能参数的影响 | 第42-43页 |
| ·不同氧化物含量对性能参数的影响 | 第43-45页 |
| ·力学性能测试 | 第45-46页 |
| ·测试方案 | 第45页 |
| ·力学性能参数 | 第45-46页 |
| ·PZTMN 复合材料微观结构分析 | 第46-50页 |
| ·不同烧结温度的影响 | 第46-47页 |
| ·不同氧化物含量样品的图谱比较 | 第47-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 共沉淀法制备A 位先驱体合成复合材料 | 第51-64页 |
| ·共沉淀法合成陶瓷粉料原理及工艺 | 第51-55页 |
| ·沉淀法基本原理 | 第51-52页 |
| ·选择配方 | 第52页 |
| ·A 位先驱体制备过程 | 第52-54页 |
| ·A 位与B 位混合形成PSZTMN 粉料 | 第54页 |
| ·黏合剂PVA 的制备 | 第54页 |
| ·压片工艺 | 第54页 |
| ·烧结成瓷工艺 | 第54-55页 |
| ·样品的被银 | 第55页 |
| ·最终确定的工艺方案 | 第55页 |
| ·电学性能测试 | 第55-58页 |
| ·测试方案 | 第55页 |
| ·不同氧化物含量样品对性能参数的影响 | 第55-57页 |
| ·烧结温度对性能参数的影响 | 第57-58页 |
| ·PSZTMN 复合材料微观结构分析 | 第58-63页 |
| ·不同烧结温度的SEM 图 | 第59-60页 |
| ·不同氧化物含量样品的SEM 图 | 第60-62页 |
| ·Sr~(2+)的部分替代对材料性能的影响分析 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |