| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·研究背景和意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·国外FPGA 领域的发展现状 | 第9-10页 |
| ·国内FPGA 领域的发展现状 | 第10-11页 |
| ·论文工作及安排 | 第11-12页 |
| 第二章 HWD4010 型FPGA 结构及特性 | 第12-26页 |
| ·逻辑功能描述 | 第12-23页 |
| ·可配置逻辑模块（CLB） | 第12-15页 |
| ·输入/输出模块（IOB） | 第15-17页 |
| ·可编程互联线资源（IR） | 第17-21页 |
| ·三态缓冲器 | 第21-22页 |
| ·宽边译码器 | 第22-23页 |
| ·片内振荡器 | 第23页 |
| ·配置 | 第23-25页 |
| ·专用管脚 | 第24页 |
| ·配置模式 | 第24-25页 |
| ·JTAG 模式配置 | 第25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 HWD4010 型FPGA 测试向量的设计 | 第26-60页 |
| ·可编程逻辑模块（CLB）测试向量设计 | 第26-46页 |
| ·D 触发器测试向量设计 | 第27-29页 |
| ·LUT 单元测试向量设计 | 第29-40页 |
| ·进位逻辑测试向量设计 | 第40-46页 |
| ·结论 | 第46页 |
| ·输入/输出模块（IOB）测试向量设计 | 第46-53页 |
| ·I/O 测试向量设计 | 第46-50页 |
| ·宽边译码器测试向量设计 | 第50-53页 |
| ·互联线资源（IR）测试向量设计 | 第53-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第四章 HWD4010 型FPGA 测试与分析 | 第60-76页 |
| ·测试条件分析和要求 | 第60页 |
| ·软硬件协同测试平台 | 第60-61页 |
| ·自动化测试平台 | 第61-70页 |
| ·配置数据存储 | 第62-65页 |
| ·FPGA 功能设计 | 第65-70页 |
| ·功能测试的实现 | 第70-75页 |
| ·D 触发器测试 | 第70-72页 |
| ·LUT 实现XOR 测试 | 第72-74页 |
| ·I/O 测试 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第五章 总结与展望 | 第76-78页 |
| ·论文总结 | 第76页 |
| ·工作展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 攻读硕士期间取得成果 | 第81-82页 |