RAM芯片测试系统及其专用芯片设计
| 摘 要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·芯片检测技术 | 第7-8页 |
| ·关键技术问题 | 第8-12页 |
| ·系统设计方法 | 第9-10页 |
| ·芯片的检测算法 | 第10-11页 |
| ·检测的可靠性 | 第11-12页 |
| ·论文研究内容 | 第12-13页 |
| 第二章 存储器电路原理与故障检测方法 | 第13-20页 |
| ·存储器电路原理 | 第13-15页 |
| ·基本结构功能 | 第13-14页 |
| ·存储单元电路 | 第14-15页 |
| ·存储器故障类型 | 第15-18页 |
| ·阵列故障 | 第15-17页 |
| ·周边逻辑故障 | 第17-18页 |
| ·存储器故障检测方法 | 第18-20页 |
| ·传统的测试方法 | 第18页 |
| ·改进的测试方法 | 第18-20页 |
| 第三章 检测系统的总体设计 | 第20-28页 |
| ·系统需求 | 第20-21页 |
| ·总体设计 | 第21-26页 |
| ·总体功能设计 | 第22-23页 |
| ·工作原理 | 第23-26页 |
| ·寄存器资源 | 第26-28页 |
| ·控制寄存器 | 第26-27页 |
| ·状态寄存器 | 第27页 |
| ·测试数据表 | 第27-28页 |
| 第四章 系统功能模块的详细设计 | 第28-42页 |
| ·CPU 接口模块 | 第28-33页 |
| ·功能设计 | 第28-29页 |
| ·接口参数定义 | 第29-30页 |
| ·接口信号的时序设计 | 第30-33页 |
| ·测试模块 | 第33-38页 |
| ·功能设计 | 第33-35页 |
| ·接口参数定义 | 第35-36页 |
| ·具体实现 | 第36-38页 |
| ·存储器接口模块 | 第38-42页 |
| ·整体功能的设计 | 第38-39页 |
| ·接口参数定义 | 第39-41页 |
| ·具体实现 | 第41-42页 |
| 第五章 测试系统的验证实现平台与功能仿真 | 第42-56页 |
| ·验证技术方法 | 第42-43页 |
| ·测试系统的验证实现平台 | 第43-49页 |
| ·验证平台建立方法 | 第43-44页 |
| ·本设计验证平台的构建 | 第44-49页 |
| ·功能仿真验证 | 第49-56页 |
| ·启动一次扫描测试 | 第50-51页 |
| ·配置测试表测试 | 第51-53页 |
| ·外部电路读取SRAM | 第53-56页 |
| 第六章 FPGA 综合兑现与时序性能分析 | 第56-62页 |
| ·FPGA 的功能与特点 | 第56-57页 |
| ·本设计的FPGA 综合与时序分析 | 第57-62页 |
| ·FPGA 综合 | 第57-59页 |
| ·时序分析 | 第59-62页 |
| 第七章 总结 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 已发表文章 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
