| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-10页 |
| 1 引言 | 第10页 |
| 2 历史资料 | 第10-13页 |
| 2．1 Gd-Ni二元系及其化合物 | 第10-11页 |
| 2．2 Gd-Mn二元系 | 第11-12页 |
| 2．3 Mn-Ni二元系 | 第12-13页 |
| 3 实验原理和方法 | 第13-28页 |
| 3．1 试样的制备 | 第13-14页 |
| 3．1．1 配料和熔炼 | 第13页 |
| 3．1．2 合金试样的均匀化热处理 | 第13页 |
| 3．1．3 粉末试样的制备 | 第13-14页 |
| 3．1．4 金相试样的制备 | 第14页 |
| 3．2 X射线衍射法 | 第14-16页 |
| 3．2．1 X射线衍射仪的基本原理与构造 | 第14-15页 |
| 3．2．2 实验条件的选择 | 第15-16页 |
| 3．3 差热分析法（DTA） | 第16-17页 |
| 3．4 金相分析法 | 第17-18页 |
| 3．5 电镜法 | 第18-19页 |
| 3．5．1 扫描电子显微镜（SEM） | 第18-19页 |
| 3．5．2 能谱分析（EDAX） | 第19页 |
| 3．6 相界的测定 | 第19-20页 |
| 3．6．1 相消失法 | 第19-20页 |
| 3．6．2 点阵常数法 | 第20页 |
| 3．7 X射线粉末衍射谱的指标化 | 第20-24页 |
| 3．7．1 比值法 | 第21-22页 |
| 3．7．2 分析法 | 第22页 |
| 3．7．3 图解法 | 第22-23页 |
| 3．7．4 计算机尝试法 | 第23-24页 |
| 3．7．5 指标化结果正确性的判据 | 第24页 |
| 3．8 晶体点阵常数的精确测定 | 第24-28页 |
| 3．8．1 内标法 | 第25页 |
| 3．8．2 图形外推法 | 第25页 |
| 3．8．3 最小二乘法 | 第25-28页 |
| 4 实验结果和讨论 | 第28-36页 |
| 4．1 Gd-Mn-Ni三元系530℃等温截面相图 | 第28-30页 |
| 4．2 单相区固溶度的测定 | 第30-31页 |
| 4．3 中间化合物 | 第31-34页 |
| 4．3．1 Gd_3Ni_2和GdNi_4 | 第31-32页 |
| 4．3．2 Gd_2Ni_（17）中间化合物 | 第32-33页 |
| 4．3．3 三元化合物 | 第33-34页 |
| 4．4 合金试样制备过程的几个细节讨论 | 第34-35页 |
| 4．4．1 熔炼炉中的充氩 | 第34-35页 |
| 4．4．2 磁场的作用、以及电子极的影响 | 第35页 |
| 4．5 关于三相区的确定 | 第35-36页 |
| 参考文献 | 第36-38页 |
| 致谢 | 第38-39页 |
| 附表1 实验合金的成分配比及其相组成 | 第39-43页 |
| 附图 X射线衍射谱线 | 第43-56页 |