| 1． 前言 | 第1-12页 |
| 1．1 高速ADC及测试简介 | 第8-9页 |
| 1．2 码密度直方图分析方法 | 第9-11页 |
| 1．2．1 静态测试 | 第9-10页 |
| 1．2．2 动态测试 | 第10-11页 |
| 1．3 快速付里叶交换（FFT）分析方法 | 第11-12页 |
| 1．4 码密度直方图分析测试和FFT分析测试有共同的基础 | 第12页 |
| 2． 码密度直方图分析测试和FFT分析测试的理论基础 | 第12-25页 |
| 2．1 参数定义 | 第12-14页 |
| 2．1．1 失调误差 | 第12页 |
| 2．1．2 微分非线性 | 第12页 |
| 2．1．3 积分非线性 | 第12-13页 |
| 2．1．4 失码 | 第13页 |
| 2．1．5 增益误差 | 第13页 |
| 2．1．6 信噪比 | 第13页 |
| 2．1．7 信噪失真比 | 第13页 |
| 2．1．8 总谐波失真 | 第13-14页 |
| 2．1．9 等效比特位数 | 第14页 |
| 2．1．10 无假信号动态范围 | 第14页 |
| 2．2 码密度直方图理论 | 第14-22页 |
| 2．2．1 选择合适的输入信号 | 第14-16页 |
| 2．2．2 随机采样 | 第16页 |
| 2．2．3 正弦波概率密度及概率分布 | 第16-17页 |
| 2．2．4 基于码密度直方图分析的动态传递特性参数推导 | 第17-19页 |
| 2．2．5 采样数目N的确定 | 第19-22页 |
| 2．3 FFT分析理论 | 第22-23页 |
| 2．3．1 FFT分析的引入 | 第22页 |
| 2．3．2 离散付里叶交换DFT与逆变换IDFT | 第22页 |
| 2．3．3 运用FFT分析应注意的几个问题 | 第22-23页 |
| 2．3．4 原始输入波形（基波）的恢复 | 第23页 |
| 2．4 相干采样 | 第23-24页 |
| 2．5 高速ADC的测试原理框图 | 第24-25页 |
| 3． LTX公司SYNCHRO Π AC测试系统简介 | 第25-33页 |
| 3．1 SYNCHRO Π AC测试系统概述 | 第25-26页 |
| 3．2 SYNCHRO Π AC各模块机箱简介 | 第26-27页 |
| 3．3 基于SYNCHRO Π AC测试系统的高速ADC测试所需资源简介 | 第27-33页 |
| 3．3．1 DPS子系统简介 | 第28-29页 |
| 3．3．2 AP子系统简介 | 第29-31页 |
| 3．3．3 DP子系统简介 | 第31-32页 |
| 3．3．4 RF02子系统简介 | 第32-33页 |
| 4． 基于SYNCHRO Π AC测试系统的高速ADC部份参数的动态测试的实现 | 第33-41页 |
| 4．1 样品电路及参数选择 | 第33页 |
| 4．2 AD9048简介 | 第33-34页 |
| 4．3 SAD012简介 | 第34-36页 |
| 4．4 基于SYNCHRO Π AC测试系统的所选样品电路的部份参数动态测试的实现 | 第36-37页 |
| 4．5 窗函数 | 第37-39页 |
| 4．6 测试适配器的设计及考虑 | 第39-40页 |
| 4．7 测试程序设计 | 第40-41页 |
| 5． 测试结果 | 第41-63页 |
| 5．1 AD9048测试结果 | 第41-54页 |
| 5．2 SAD1201测试结果 | 第54-63页 |
| 6． 结论 | 第63-64页 |
| 7． 结束语 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
| 参考文献 | 第65页 |
