嵌入式存储器内建自测试和内建自修复技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-22页 |
| ·嵌入式存储器的发展概述 | 第11-12页 |
| ·存储器测试和修复技术研究现状 | 第12-20页 |
| ·存储器测试技术 | 第12-14页 |
| ·容错与避错 | 第14-16页 |
| ·存储器修复技术 | 第16-18页 |
| ·国内外研究概况 | 第18-19页 |
| ·目前存在的技术难点 | 第19-20页 |
| ·课题研究的意义 | 第20-21页 |
| ·本课题的研究工作和论文组织 | 第21-22页 |
| 第二章 常用的存储器自测试和自修复技术分析 | 第22-35页 |
| ·存储器测试 | 第22-29页 |
| ·故障类型 | 第22-24页 |
| ·存储器的测试方法 | 第24-26页 |
| ·存储器的测试算法 | 第26-28页 |
| ·存储器测试系统的基本结构 | 第28-29页 |
| ·存储器修复 | 第29-33页 |
| ·存储器的修复策略 | 第29-32页 |
| ·冗余资源对成品率和可靠性分析 | 第32页 |
| ·存储器自修复系统的基本结构 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章 嵌入式存储器自修复系统电路设计与实现 | 第35-55页 |
| ·SRAM 存储器结构分析 | 第35-37页 |
| ·基于二进制计数器的SRAM 内建自测试电路设计 | 第37-41页 |
| ·MBIST 控制器和测试算法 | 第39-40页 |
| ·地址生成器 | 第40页 |
| ·测试向量 | 第40页 |
| ·故障比较器 | 第40-41页 |
| ·SRAM 内建自修复电路设计 | 第41-46页 |
| ·改进的基于DWL 修复策略 | 第41-43页 |
| ·SRAM 内建自修复电路结构 | 第43-46页 |
| ·实验结果分析 | 第46-53页 |
| ·实验平台 | 第46-47页 |
| ·仿真结果分析 | 第47-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第四章 SRAM 内建自测试电路改进设计 | 第55-65页 |
| ·基于LFSR 设计地址生成器分析 | 第55-60页 |
| ·LFSR 伪随机序列生成器的原理 | 第55-56页 |
| ·LFSR 伪随机序列生成器的优点 | 第56-57页 |
| ·传统的LFSR 地址生成器电路结构 | 第57-59页 |
| ·改进的LFSR 地址生成器电路结构 | 第59-60页 |
| ·测试算法分析 | 第60-61页 |
| ·实验结果分析 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-68页 |
| ·研究工作总结 | 第65-66页 |
| ·下一步工作建议 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第74-75页 |
| 附录 | 第75页 |
