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半导体芯片最终测试多阶段可重入调度优化仿真研究

摘要第1-7页
Abstract第7-8页
目录第8-10页
第1章 绪论第10-20页
   ·引言第10页
   ·半导体芯片最终测试阶段第10-18页
     ·半导体芯片最终测试流程第10-12页
     ·最终测试多阶段可重入调度复杂性分析第12-13页
     ·相关研究综述第13-18页
   ·本文主要研究内容及结构安排第18-20页
第2章 最终测试多阶段可重入调度模型第20-33页
   ·FTMR物理模型第20-21页
   ·FTMR数学模型第21-23页
   ·FTMR仿真模型第23-33页
     ·ExtendSim仿真软件第23-24页
     ·FTMR子模块构建第24-29页
     ·FTMR模型的建立第29-33页
第3章 基于规则的多阶段可重入调度分析第33-46页
   ·半导体生产系统调度内容及性能指标第33-34页
   ·最终测试阶段调度策略第34-38页
     ·投料策略第34-35页
     ·派工规则第35-36页
     ·缓冲区-时间规则第36-38页
   ·四种派工规则下FTMR仿真调度分析第38-46页
第4章 基于遗传算法的FTMR优化仿真第46-53页
   ·Optimizer内置遗传算法第46-47页
   ·Optimizer优化模块的设置第47-49页
   ·基于遗传算法的FTMR仿真调度分析第49-53页
第5章 基于嵌套分区算法的FTMR优化分析第53-66页
   ·嵌套分区算法概述第53-55页
     ·NP算法基本思想及术语第53-54页
     ·NP算法数学描述第54-55页
   ·构建ExtendSim嵌套分区算法模块第55-57页
     ·FTMR的NP算法调度流程描述第55-57页
     ·ExtendSim NP算法的植入第57页
   ·基于嵌套分区算法的FTMR优化分析第57-62页
   ·固定在制品投料策略下FTMR优化分析第62-66页
     ·CONWIP投料策略在ExtendSim中的实现第62-63页
     ·CONWIP投料策略下FTMR仿真优化分析第63-66页
结论第66-68页
 论文研究内容及相关结论第66页
 论文可能的创造性成果第66-67页
 论文展望第67-68页
致谢第68-69页
参考文献第69-74页
附录1第74-76页
附录2第76-84页
附录3第84页

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