VDMOS器件可靠性的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-17页 |
| ·功率半导体器件的发展 | 第8-10页 |
| ·功率MOSFET 的分类 | 第10-13页 |
| ·可靠性概述 | 第13-15页 |
| ·本文主要工作 | 第15-17页 |
| 第二章 VDMOS 器件基本原理 | 第17-31页 |
| ·VDMOS 基本特性 | 第17-19页 |
| ·器件基本结构 | 第17-18页 |
| ·输出特性 | 第18页 |
| ·转移特性 | 第18-19页 |
| ·VDMOS 器件静态参数 | 第19-28页 |
| ·漏源击穿电压 | 第19-23页 |
| ·阈值电压 | 第23-25页 |
| ·导通电阻 | 第25-28页 |
| ·VDMOS 器件的工作状态 | 第28-31页 |
| ·关断状态 | 第28-29页 |
| ·开启过程 | 第29页 |
| ·开启状态 | 第29-30页 |
| ·关断过程 | 第30-31页 |
| 第三章 VDMOS 可靠性基础试验 | 第31-45页 |
| ·自主研制VDMOS 器件7575 | 第31-33页 |
| ·高温存储试验 | 第33-35页 |
| ·试验程序和方法 | 第34页 |
| ·终测数据分布总结 | 第34-35页 |
| ·温度循环试验 | 第35-38页 |
| ·实验程序和方法 | 第36-37页 |
| ·终测数据分布总结 | 第37-38页 |
| ·老炼试验 | 第38-41页 |
| ·高温反偏试验 | 第39页 |
| ·高温栅偏试验 | 第39-40页 |
| ·老炼试验参数测量结果 | 第40-41页 |
| ·试验结果分析 | 第41-45页 |
| ·失效器件的分析 | 第41-42页 |
| ·Arrhenius 模型 | 第42-45页 |
| 第四章 VDMOS 电机应用可靠性试验 | 第45-63页 |
| ·直流无刷电机 | 第45-49页 |
| ·直流无刷电动机的工作原理 | 第45-47页 |
| ·直流无刷电动机的控制结构 | 第47页 |
| ·直流无刷电动机的控制原理 | 第47-49页 |
| ·最大供电电压测试 | 第49-57页 |
| ·试验前准备工作 | 第49页 |
| ·试验程序及结果 | 第49-55页 |
| ·试验结果分析 | 第55-57页 |
| ·刹车试验 | 第57-63页 |
| ·试验方法 | 第57-58页 |
| ·试验程序及结果 | 第58-60页 |
| ·刹车试验结果分析 | 第60-63页 |
| 第五章 结论 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 附录 | 第67-75页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第75-76页 |
