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SOC测试访问机制与测试调度的研究与设计

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
第1章 绪论第10-15页
   ·课题来源及研究的目的与意义第10-12页
   ·目前国内外研究现状第12-14页
   ·课题研究的主要内容第14-15页
第2章 系统芯片SOC 测试结构第15-30页
   ·引言第15页
   ·系统芯片的关键技术第15-17页
     ·设计复用第15-16页
     ·可测性设计第16页
     ·软硬件协同设计第16-17页
     ·总线构架第17页
   ·SOC 测试问题划分第17-29页
     ·内核测试外壳第18-20页
     ·测试访问机制第20-25页
     ·测试调度第25-29页
   ·本章小结第29-30页
第3章 多核SOC 芯片的测试访问机制第30-40页
   ·引言第30页
   ·内核级的测试访问机制第30-32页
     ·内核级的测试访问原理第31页
     ·内核级的测试访问结构第31-32页
   ·多核SOC 系统级的测试访问第32-39页
     ·多核SOC 的测试访问第33-34页
     ·多核SOC 的测试访问结构第34-36页
     ·测试访问指令第36-39页
   ·本章小结第39-40页
第4章 多核SOC 芯片的测试调度第40-52页
   ·引言第40页
   ·测试调度问题第40-42页
     ·测试资源第40-41页
     ·测试约束条件第41-42页
   ·基于遗传算法优化的神经网络模型第42-51页
     ·优化原理第43页
     ·测试调度问题的抽象第43-46页
     ·遗传算法优化神经网络的研究第46-48页
     ·优化后的神经网络SOC 测试调度第48-51页
   ·本章小结第51-52页
第5章 多核SOC 通用模型的设计及验证第52-57页
   ·引言第52页
   ·多核SOC 级测试平台第52-55页
     ·测试仿真设计第52-54页
     ·测试开发环境第54-55页
   ·实验结果分析第55-56页
   ·本章小结第56-57页
结论第57-59页
参考文献第59-63页
攻读学位期间发表的学术论文第63-64页
致谢第64页

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