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非晶InSb探测器材料光电特性研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-6页
目录第6-7页
第一章 绪论第7-17页
   ·非晶半导体材料的发展简史第7-8页
   ·非晶半导体的理论基础第8-15页
   ·Ⅲ-Ⅴ族非晶态半导体材料的研究进展第15-16页
   ·本论文的研究意义、目的及主要研究内容第16-17页
第二章 磁控溅射法制备InSb薄膜及其表征方法第17-25页
   ·溅射机理及薄膜的生长机理第17-20页
   ·影响薄膜生长、结构和性质的主要工艺参数第20-22页
   ·薄膜的表征方法第22-24页
   ·本章小结第24-25页
第三章 a-InSb薄膜的制备以及结构组分分析第25-32页
   ·磁控溅射a-InSb薄膜的制备工艺第25-26页
   ·a-InSb薄膜的结构表征及生长窗口第26-27页
   ·工作气压和衬底温度对a-InSb薄膜表面形貌的影响第27-29页
   ·工作气压、衬底温度和溅射功率对In_xSb_(1-x)薄膜组分的影响第29-31页
   ·本章小结第31-32页
第四章 a-InSb薄膜光电特性的研究第32-45页
   ·工作气压、溅射功率、和衬底温度对光学带隙的影响第32-37页
   ·a-InSb薄膜的光学常数第37-42页
   ·a-InSb薄膜的电学性质和光敏特性第42-44页
   ·本章小结第44-45页
第五章 a-InSb薄膜的掺氢研究第45-48页
   ·磁控溅射a-InSb:H薄膜的制备工艺第45页
   ·a-InSb:H薄膜的表征与分析第45-47页
   ·本章小结第47-48页
结论第48-49页
致谢第49-50页
参考文献第50-52页

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