基于雪崩光电二极管的紫外单光子计数成像系统设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第12-18页 |
| 1.2.1 半导体探测器研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 光子计数成像技术研究现状 | 第14-18页 |
| 1.2.3 紫外探测技术的发展趋势 | 第18页 |
| 1.3 研究内容和技术指标 | 第18-19页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第18-19页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第19页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第19-22页 |
| 第二章 紫外探测系统成像原理 | 第22-34页 |
| 2.1 日盲紫外探测基础 | 第22-24页 |
| 2.1.1 探测响应频谱 | 第22-23页 |
| 2.1.2 噪声分析 | 第23页 |
| 2.1.3 成像系统组成 | 第23-24页 |
| 2.2 光机扫描成像原理 | 第24-27页 |
| 2.2.1 扫描方式选取与实现 | 第24-26页 |
| 2.2.2 数据处理与图像获取 | 第26-27页 |
| 2.3 SiC APD原理与特性 | 第27-29页 |
| 2.3.1 APD的工作原理 | 第27-28页 |
| 2.3.2 SiC APD的特性 | 第28-29页 |
| 2.4 APD保护电路 | 第29-30页 |
| 2.5 高压保护器件与典型结构分析 | 第30-33页 |
| 2.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 紫外成像系统硬件设计 | 第34-50页 |
| 3.1 设计要求 | 第34页 |
| 3.2 系统整体设计方案 | 第34-36页 |
| 3.2.1 总体设计方案 | 第34-35页 |
| 3.2.2 光机电及其控制系统结构设计 | 第35-36页 |
| 3.3 紫外光探测模块-像素保护电路设计 | 第36-40页 |
| 3.3.1 保护电路设计要求 | 第36-37页 |
| 3.3.2 保护电路结构设计 | 第37-38页 |
| 3.3.3 保护电路仿真 | 第38-39页 |
| 3.3.4 保护电路版图设计 | 第39-40页 |
| 3.4 前置光学系统设计 | 第40-43页 |
| 3.4.1 光学系统指标分析 | 第40-42页 |
| 3.4.2 物镜配置 | 第42-43页 |
| 3.5 探测器件调节台 | 第43-44页 |
| 3.6 扫描转台选型 | 第44页 |
| 3.7 数据采集系统设计 | 第44-46页 |
| 3.8 光机系统集成 | 第46-48页 |
| 3.9 本章小结 | 第48-50页 |
| 第四章 成像系统控制软件设计 | 第50-62页 |
| 4.1 系统软件总体结构 | 第50页 |
| 4.2 软件开发工具分析 | 第50-51页 |
| 4.3 线性扫描位移台控制程序 | 第51-54页 |
| 4.3.1 电机初始化程序 | 第51-52页 |
| 4.3.2 转动子程序 | 第52-54页 |
| 4.4 数据采集控制程序 | 第54-56页 |
| 4.4.1 芯片数据采集与处理程序 | 第54-55页 |
| 4.4.2 进制转换程序 | 第55-56页 |
| 4.5 数据处理与成像实现程序 | 第56-61页 |
| 4.5.1 成像总体实现程序 | 第57-59页 |
| 4.5.2 三维强度图实现程序 | 第59-60页 |
| 4.5.3 CCD相机图像采集程序 | 第60-61页 |
| 4.6 本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 测试验证与分析 | 第62-72页 |
| 5.1 高压保护电路芯片测试 | 第62-64页 |
| 5.2 成像系统搭建 | 第64-66页 |
| 5.2.1 测试方案 | 第64页 |
| 5.2.2 探测系统搭建 | 第64-66页 |
| 5.2.3 扫描参数设置 | 第66页 |
| 5.3 成像演示 | 第66-70页 |
| 5.3.1 数据采集处理 | 第66-67页 |
| 5.3.2 系统扫描成像 | 第67-69页 |
| 5.3.3 图像处理 | 第69-70页 |
| 5.4 测试结果与分析 | 第70-71页 |
| 5.5 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 总结 | 第72页 |
| 6.2 展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第78页 |
