| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第12-20页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第12-13页 |
| 1.2 文献综述 | 第13-18页 |
| 1.2.1 半导体激光器的应用与发展 | 第13-14页 |
| 1.2.2 半导体激光器退化机理研究概述 | 第14-15页 |
| 1.2.3 半导体激光器仿真模型的发展概述 | 第15-16页 |
| 1.2.4 半导体激光器测试技术研究概述 | 第16-18页 |
| 1.3 论文研究思路与内容安排 | 第18-20页 |
| 1.3.1 论文的研究思路 | 第18-19页 |
| 1.3.2 论文的内容安排 | 第19-20页 |
| 第二章 半导体激光器退化机理分析与建模 | 第20-34页 |
| 2.1 基于速率方程的半导体激光器本征模型 | 第20-25页 |
| 2.1.1 半导体激光器结构与激光原理 | 第20-23页 |
| 2.1.2 半导体激光器本征特性数学模型与电路等效模型 | 第23-25页 |
| 2.2 半导体激光器典型退化机理分析与建模 | 第25-30页 |
| 2.2.1 半导体激光器典型退化模式分析 | 第25-26页 |
| 2.2.2 半导体激光器有源区退化模型 | 第26-28页 |
| 2.2.3 半导体激光器腔面退化模型 | 第28-30页 |
| 2.3 考虑热特性的半导体激光器模型 | 第30-33页 |
| 2.3.1 半导体激光器温度作用机理分析 | 第30-32页 |
| 2.3.2 半导体激光器热特性数学模型与电路等效模型 | 第32-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 半导体激光器模型仿真与退化表征分析 | 第34-47页 |
| 3.1 半导体激光器电路模型PSPICE仿真 | 第34-40页 |
| 3.1.1 退化特性模型仿真 | 第35-39页 |
| 3.1.2 热特性模型仿真 | 第39-40页 |
| 3.2 退化表征参数的仿真分析 | 第40-45页 |
| 3.2.1 退化表征参数的技术要求 | 第40-41页 |
| 3.2.2 退化表征参数的仿真与选择 | 第41-45页 |
| 3.3 退化表征参数的测试 | 第45-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 半导体激光器退化监测的嵌入式测试 | 第47-56页 |
| 4.1 嵌入式测试需求分析 | 第47-48页 |
| 4.2 嵌入式测试设计方案 | 第48-52页 |
| 4.2.1 总体设计框图 | 第48页 |
| 4.2.2 硬件电路设计 | 第48-52页 |
| 4.3 嵌入式测试软件设计 | 第52-55页 |
| 4.3.1 软件主要流程图 | 第52-53页 |
| 4.3.2 ARM单片机初始化 | 第53-54页 |
| 4.3.3 软件算法设计 | 第54-55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 半导体激光器特性参数测试的实现与验证 | 第56-68页 |
| 5.1 特性参数测试平台设计与验证方案 | 第56-60页 |
| 5.1.1 特性参数测试平台设计 | 第56-59页 |
| 5.1.2 特性验证方案 | 第59-60页 |
| 5.2 特性参数测试的实现与验证 | 第60-62页 |
| 5.3 实验结果分析与模型修正 | 第62-67页 |
| 5.4 仿真模型与嵌入式测试的应用 | 第67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 结论与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 研究总结 | 第68-69页 |
| 6.2 研究展望 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第76-78页 |
| 附录A 半导体激光器PSpice电路描述模型 | 第78-80页 |