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Y掺杂CdO薄膜的性能研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第1章 绪论第11-33页
    1.1 引言第11-12页
    1.2 透明导电氧化物的性质第12-16页
        1.2.1 电学性质第12-13页
        1.2.2 光学性质第13-16页
    1.3 CdO的基本性质第16-19页
        1.3.1 CdO的能带结构第16-17页
        1.3.2 CdO的电学性质第17-18页
        1.3.3 CdO的光学性质第18-19页
    1.4 薄膜制备方法第19-25页
        1.4.1 磁控溅射第19-21页
        1.4.2 脉冲激光沉积(PLD)第21-22页
        1.4.3 化学气相沉积(CVD)第22-23页
        1.4.4 喷雾热解第23-24页
        1.4.5 溶液沉积第24-25页
    1.5 薄膜的表征方法第25-31页
        1.5.1 薄膜厚度第25-26页
        1.5.2 薄膜形貌第26-27页
        1.5.3 成分表征第27-29页
        1.5.4 晶体结构的表征第29页
        1.5.5 电学性质的表征第29-31页
        1.5.6 光学性质的表征第31页
    1.6 本文选题的研究内容及意义第31-33页
第2章 实验内容与方法第33-37页
    2.1 Y掺杂CdO薄膜的制备第33-35页
        2.1.1 实验材料第33页
        2.1.2 实验仪器第33-34页
        2.1.3 实验内容第34-35页
        2.1.4 快速退火处理第35页
    2.2 Y掺杂CdO薄膜的表征第35-37页
        2.2.1 薄膜厚度表征第35-36页
        2.2.2 薄膜成分表征第36页
        2.2.3 薄膜晶体结构表征第36页
        2.2.4 电学性质表征第36页
        2.2.5 光学性质表征第36-37页
第3章 Y掺杂CdO薄膜的性能第37-47页
    3.1 掺杂浓度第37-39页
    3.2 薄膜晶体结构第39-40页
    3.3 Y掺杂CdO薄膜电学性质第40-41页
    3.4 Y掺杂CdO薄膜光学性质第41-45页
    3.5 本章小结第45-47页
第4章 退火对CYO薄膜性能的影响第47-59页
    4.1 退火温度对CYO薄膜性能的影响第47-54页
        4.1.1 薄膜结构变化第47-49页
        4.1.2 薄膜电学性质变化第49-54页
    4.2 退火时间对CYO薄膜性能的影响第54-56页
    4.3 本章小结第56-59页
第5章 Y和In共掺杂CdO薄膜性能第59-65页
    5.1 实验内容第59页
    5.2 共掺杂薄膜性能第59-62页
        5.2.1 共掺杂薄膜的电学性质第59-60页
        5.2.2 共掺杂薄膜的光学性质第60-62页
    5.3 退火对共掺杂薄膜的影响第62-64页
    5.4 本章小结第64-65页
第6章 总结与展望第65-67页
    6.1 总结第65-66页
    6.2 展望第66-67页
参考文献第67-73页
致谢第73-74页
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第74页

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