| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 主要符号对照表 | 第17-18页 |
| 第1章 引言 | 第18-30页 |
| 1.1 课题背景 | 第19-27页 |
| 1.1.1 核聚变研究现状 | 第19-23页 |
| 1.1.2 ITER软X射线诊断系统 | 第23-25页 |
| 1.1.3 软X射线诊断系统电磁兼容现状及研究意义 | 第25-27页 |
| 1.2 课题提出 | 第27页 |
| 1.3 论文结构 | 第27-30页 |
| 第2章 ITER软X诊断系统及其电磁环境分析 | 第30-42页 |
| 2.1 软X射线诊断系统概论 | 第30-32页 |
| 2.2 ITER环境电磁场分析及其危害 | 第32-37页 |
| 2.2.1 静态磁场产生及其危害 | 第32-33页 |
| 2.2.2 扰动电磁辐射及其危害 | 第33-34页 |
| 2.2.3 ITER托卡马克结构及其抗干扰设计 | 第34-37页 |
| 2.3 ITER对RXC诊断系统抗干扰设计要求 | 第37-40页 |
| 2.4 本章小结 | 第40-42页 |
| 第3章 软X射线诊断系统电磁屏蔽设计 | 第42-68页 |
| 3.1 静态磁场的防护及仿真 | 第43-55页 |
| 3.1.1 静态磁场的屏蔽机理 | 第43-44页 |
| 3.1.2 屏蔽箱体结构及静态磁场屏蔽设计 | 第44-48页 |
| 3.1.3 屏蔽体电磁仿真及屏蔽效能分析 | 第48-55页 |
| 3.2 扰动磁场的防护及仿真 | 第55-63页 |
| 3.2.1 高频电磁辐射及其屏蔽机理 | 第55-57页 |
| 3.2.2 高频电磁辐射HFSS仿真分析 | 第57-63页 |
| 3.3 软X相机电子线路板电磁辐射分析及屏蔽 | 第63-66页 |
| 3.4 本章小结 | 第66-68页 |
| 第4章 软X射线诊断系统电路抗干扰设计 | 第68-98页 |
| 4.1 探测器原理及特性分析 | 第68-73页 |
| 4.1.1 光电二极管的特性及基本原理 | 第68-71页 |
| 4.1.2 光电二极管噪声 | 第71页 |
| 4.1.3 PIN光电二极管及偏压 | 第71-73页 |
| 4.2 检测系统电源噪声及其完整性分析 | 第73-82页 |
| 4.2.1 电源噪声源分析 | 第74-75页 |
| 4.2.2 检测系统电源完整性分析 | 第75-77页 |
| 4.2.3 检测系统电源EMI滤波器设计 | 第77-79页 |
| 4.2.4 检测系统电路谐振仿真 | 第79-80页 |
| 4.2.5 电源性能测试 | 第80-82页 |
| 4.3 信号检测电路噪声抑制及其动态响应分析 | 第82-89页 |
| 4.3.1 信号检测电路的设计及优化 | 第82-83页 |
| 4.3.2 信号检测电路噪声抑制及动态相应分析 | 第83-86页 |
| 4.3.3 信号传输线阻抗匹配 | 第86-87页 |
| 4.3.4 检测系统信号抗干扰设计 | 第87-89页 |
| 4.3.5 测试结果 | 第89页 |
| 4.4 PCB电磁兼容设计 | 第89-94页 |
| 4.4.1 电子线路板干扰分析 | 第90-91页 |
| 4.4.2 PCB电磁兼容设计规范 | 第91-94页 |
| 4.5 软X相机电子学EMC测试及结果分析 | 第94-96页 |
| 4.6 本章小结 | 第96-98页 |
| 第5章 软X相机冷却回路设计与测试 | 第98-112页 |
| 5.1 冷却回路结构设计 | 第98-100页 |
| 5.2 探测器及冷却回路热流量分析和计算 | 第100-102页 |
| 5.2.1 辐射热分析 | 第100-102页 |
| 5.2.2 传导热计算 | 第102页 |
| 5.3 冷却回路热学仿真 | 第102-106页 |
| 5.4 探测器烘烤及冷却测试 | 第106-111页 |
| 5.4.1 测试结果 | 第108-110页 |
| 5.4.2 测试结果分析 | 第110-111页 |
| 5.5 本章小结 | 第111-112页 |
| 第6章 总结及展望 | 第112-116页 |
| 6.1 论文总结 | 第112-113页 |
| 6.2 论文创新点 | 第113页 |
| 6.3 工作展望 | 第113-116页 |
| 参考文献 | 第116-122页 |
| 附录 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124-126页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第126页 |