嵌入式软PLC模块自动测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 自动测试系统简介 | 第9页 |
| 1.2 自动化测试系统的发展阶段 | 第9页 |
| 1.3 国内外自动测试系统研究现状及问题 | 第9-11页 |
| 1.4 研究背景及其意义 | 第11页 |
| 1.5 论文的组织架构 | 第11-12页 |
| 第2章 嵌入式软 PLC 自动测试系统需求分析 | 第12-26页 |
| 2.1 概述 | 第12页 |
| 2.2 该型产品的用途、任务、使用方式及使用环境 | 第12页 |
| 2.3 嵌入式软 PLC 控制系统 | 第12-25页 |
| 2.3.1 IEC61131 标准 | 第13-14页 |
| 2.3.2 嵌入式软 PLC 控制系统整体结构 | 第14-15页 |
| 2.3.3 硬件体系架构设计 | 第15页 |
| 2.3.4 软件体系结构 | 第15-16页 |
| 2.3.5 AIO 模块 | 第16-22页 |
| 2.3.6 DIO 模块 | 第22-23页 |
| 2.3.7 PTA 模块 | 第23-24页 |
| 2.3.8 CPU 模块 | 第24页 |
| 2.3.9 CAN 模块 | 第24-25页 |
| 2.3.10 光纤模块 | 第25页 |
| 2.3.11 电源模块 | 第25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 测试系统的设计与实现 | 第26-66页 |
| 3.1 模块级自动测试方案 | 第26-29页 |
| 3.1.1 CPU 模块自动测试方案 | 第26页 |
| 3.1.2 电源模块自动测试方案 | 第26-27页 |
| 3.1.3 CAN 模块自动测试方案 | 第27页 |
| 3.1.4 光纤模块自动测试方案 | 第27-28页 |
| 3.1.5 IO 模块自动测试方案 | 第28-29页 |
| 3.2 矩阵开关 | 第29-37页 |
| 3.2.1 矩阵开关继电器选择 | 第30页 |
| 3.2.2 矩阵开关通信及控制单元 FPGA | 第30-31页 |
| 3.2.3 锁存驱动电路 | 第31-32页 |
| 3.2.4 矩阵开关 FPGA 驱动 | 第32-34页 |
| 3.2.5 PC 端矩阵开关驱动 | 第34-37页 |
| 3.3 PLC 底板模块和电源模块 | 第37页 |
| 3.4 程控仪器 | 第37-51页 |
| 3.4.1 SCPI 命令 | 第38-39页 |
| 3.4.2 虚拟仪器软件结构（VISA） | 第39-41页 |
| 3.4.3 RS-232 总线 | 第41-42页 |
| 3.4.4 动态链接库技术（DLL） | 第42-43页 |
| 3.4.5 可编程直流电源 | 第43-46页 |
| 3.4.6 数字万用表 | 第46-49页 |
| 3.4.7 可编程直流电子负载 | 第49-51页 |
| 3.5 FPGA 端模块驱动 | 第51-54页 |
| 3.6 PC 端模块驱动 | 第54页 |
| 3.7 上位机软件 | 第54-65页 |
| 3.7.1 上位机整体设计 | 第54-57页 |
| 3.7.2 上位机功能实现 | 第57-65页 |
| 3.8 本章小结 | 第65-66页 |
| 第4章 模块测试及实验结果 | 第66-77页 |
| 4.1 电源模块测试及实验结果 | 第66-68页 |
| 4.1.1 动态输入电压 | 第66页 |
| 4.1.2 负载调整率 | 第66-67页 |
| 4.1.3 电压调整率 | 第67页 |
| 4.1.4 稳压精度 | 第67页 |
| 4.1.5 最大带负载能力稳定性测试 | 第67-68页 |
| 4.2 CAN 测试及实验结果 | 第68-69页 |
| 4.3 光纤模块测试及实验结果 | 第69-70页 |
| 4.4 CPU 测试及实验结果 | 第70-72页 |
| 4.5 AIO 模块测试及实验结果 | 第72-74页 |
| 4.6 DIO 测试及实验结果 | 第74-75页 |
| 4.7 PTA 测试及实验结果 | 第75-76页 |
| 4.8 本章小结 | 第76-77页 |
| 第5章 总结与展望 | 第77-78页 |
| 5.1 论文总结 | 第77页 |
| 5.2 工作展望 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 个人简历、在校期间发表学术论文与研究成果 | 第82页 |
