FTIR光谱仪的微弱信号检测技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 红外光谱仪信号检测模块的研究概况 | 第12-14页 |
| 1.2.1 国外研究概况 | 第12-13页 |
| 1.2.2 国内研究概况 | 第13-14页 |
| 1.3 论文主要研究内容与安排 | 第14-16页 |
| 第2章 FTIR红外探测系统组成以及检测信号分析 | 第16-23页 |
| 2.1 FTIR红外光谱仪概述 | 第16-18页 |
| 2.1.1 FTIR基本原理 | 第16-17页 |
| 2.1.2 FTIR红外光谱仪 | 第17-18页 |
| 2.2 FTIR红外光谱探测系统 | 第18-19页 |
| 2.3 红外探测器的分类和选用 | 第19-20页 |
| 2.4 探测器能量分析与转换 | 第20-22页 |
| 2.4.1 干涉光信号分析 | 第20-21页 |
| 2.4.2 红外探测器输出信号分析 | 第21-22页 |
| 2.5 本章总结 | 第22-23页 |
| 第3章 FTIR红外光谱仪的微弱信号检测电路设计 | 第23-40页 |
| 3.1 微弱信号检测技术研究 | 第23页 |
| 3.2 电路设计的初始条件建立及指标分配 | 第23-24页 |
| 3.3 检测电路的组成及基本原理 | 第24-33页 |
| 3.3.1 低噪声偏置电路的设计 | 第25-28页 |
| 3.3.2 跨阻电路的设计 | 第28-31页 |
| 3.3.3 T型电阻反馈网络比例运放 | 第31-32页 |
| 3.3.4 前置检测电路的总体设计 | 第32-33页 |
| 3.4 带通滤波电路 | 第33-37页 |
| 3.5 总体检测电路设计 | 第37-38页 |
| 3.6 A/D转换电路分析 | 第38-39页 |
| 3.7 本章总结 | 第39-40页 |
| 第4章 电路噪声分析 | 第40-51页 |
| 4.1 噪声分析方法 | 第40-41页 |
| 4.2 检测电路的噪声分析模型 | 第41-46页 |
| 4.2.1 电阻噪声分析 | 第41-42页 |
| 4.2.2 运放电路噪声分析 | 第42-43页 |
| 4.2.3 跨阻运放电路噪声分析 | 第43-44页 |
| 4.2.4 T型电阻反馈比例运放电路噪声分析 | 第44-46页 |
| 4.2.5 带通滤波电路的噪声分析 | 第46页 |
| 4.3 检测电路总噪声分析 | 第46-48页 |
| 4.3.1 前置放大电路总体的输出噪声 | 第46-47页 |
| 4.3.2 检测电路总噪声计算 | 第47-48页 |
| 4.3.3 电路可检测信号范围 | 第48页 |
| 4.4 检测电路的噪声抑制设计 | 第48-50页 |
| 4.5 本章总结 | 第50-51页 |
| 第5章 电路仿真分析以及实验验证 | 第51-61页 |
| 5.1 检测电路的仿真分析 | 第51-55页 |
| 5.1.1 静态工作点分析 | 第51-52页 |
| 5.1.2 动态工作点分析 | 第52-53页 |
| 5.1.3 瞬态分析 | 第53页 |
| 5.1.4 温度分析 | 第53-54页 |
| 5.1.5 噪声分析 | 第54-55页 |
| 5.2 检测电路的实验结果与误差分析 | 第55-60页 |
| 5.2.1 电路实测噪声分析 | 第55-58页 |
| 5.2.2 光谱实验对比分析 | 第58-60页 |
| 5.3 本章总结 | 第60-61页 |
| 第6章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第67页 |
