摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-19页 |
1.1 课题研究背景 | 第10页 |
1.2 微波介电陶瓷分类及设计 | 第10-11页 |
1.3 CTNA 基微波介电陶瓷研究现状 | 第11-14页 |
1.3.1 晶体结构 | 第11-13页 |
1.3.2 介电性能 | 第13页 |
1.3.3 本实验室研究工作 | 第13-14页 |
1.4 研究化学计量比偏离的意义 | 第14页 |
1.5 研究液相烧结的意义 | 第14-16页 |
1.5.1 液相烧结过程 | 第15页 |
1.5.2 液相烧结条件 | 第15-16页 |
1.5.3 实现液相烧结的途径 | 第16页 |
1.6 拉曼光谱和红外光谱应用原理 | 第16-17页 |
1.7 主要研究内容 | 第17-19页 |
1.7.1 非化学计量比对 CTNA 结构的影响 | 第17-18页 |
1.7.2 添加低熔点第二相对 CTNA 微观组织的影响 | 第18-19页 |
第2章 实验方法 | 第19-25页 |
2.1 非化学计量比试样的制备 | 第19-22页 |
2.2 添加低熔点第二相的 CTNA 试样的制备 | 第22-23页 |
2.3 实验设备 | 第23页 |
2.4 材料检测参数设定 | 第23-24页 |
2.5 实验试剂 | 第24-25页 |
第3章 非化学计量比试样的结构分析 | 第25-39页 |
3.1 引言 | 第25-26页 |
3.1.1 过量 Ca 和 Ti 进入钙钛矿基体方式 | 第25-26页 |
3.2 Ca 偏离化学计量比试样的 X 射线衍射分析 | 第26-30页 |
3.2.1 Ca 含量缺失试样的 X 射线衍射分析 | 第27-29页 |
3.2.2 Ca 含量过量试样的 X 射线衍射分析 | 第29-30页 |
3.3 Ti 偏离化学计量比试样的 X 射线衍射分析 | 第30-34页 |
3.3.1 Ti 含量缺失试样的 X 射线衍射分析 | 第31-33页 |
3.3.2 Ti 含量过量试样的 X 射线衍射分析 | 第33-34页 |
3.4 Al 偏离化学计量比试样的 X 射线衍射分析 | 第34-37页 |
3.4.1 过量 Nd 进入 CTNA 基体的形式 | 第34-35页 |
3.4.2 Al 含量缺失试样的 X 射线衍射分析 | 第35-37页 |
3.5 本章小结 | 第37-39页 |
第4章 非化学计量比试样的组织分析 | 第39-57页 |
4.1 引言 | 第39页 |
4.2 Ca 偏离化学计量比试样的组织分析 | 第39-43页 |
4.2.1 Ca 含量缺失试样的组织分析 | 第39-41页 |
4.2.2 Ca 含量过量试样的组织分析 | 第41-43页 |
4.3 Ti 偏离化学计量比试样的组织分析 | 第43-52页 |
4.3.1 Ti 含量缺失试样的组织分析 | 第43-49页 |
4.3.2 Ti 含量过量试样的组织分析 | 第49-52页 |
4.4 Al 偏离化学计量比试样的组织分析 | 第52-54页 |
4.5 非化学计量比试样的组织致密性分析 | 第54-56页 |
4.5.1 Ca 偏离化学计量比试样的密度分析 | 第54-55页 |
4.5.2 Ti 偏离化学计量比试样的密度分析 | 第55-56页 |
4.6 本章小结 | 第56-57页 |
第5章 拉曼光谱和红外光谱分析 | 第57-64页 |
5.1 引言 | 第57页 |
5.2 非化学计量试样的拉曼光谱分析 | 第57-60页 |
5.2.1 Ca 偏离化学计量比试样的拉曼光谱分析 | 第57-59页 |
5.2.2 Ti 偏离化学计量比试样的拉曼光谱分析 | 第59-60页 |
5.3 非化学计量试样的红外光谱分析 | 第60-63页 |
5.3.1 Ca 偏离化学计量比试样的红外光谱分析 | 第60-61页 |
5.3.2 Ti 偏离化学计量比试样的红外光谱分析 | 第61-63页 |
5.4 本章小结 | 第63-64页 |
第6章 添加 Li_2ZnTi_3O_8对 CTNA 组织的影响 | 第64-66页 |
6.1 引言 | 第64页 |
6.2 添加 Li_2ZnTi_3O_8的 CTNA 组织形貌 | 第64-65页 |
6.3 本章小结 | 第65-66页 |
结论 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-72页 |
致谢 | 第72页 |