RFID天线印刷质量在线检测关键技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-17页 |
| 1.2.1 印刷线路物理性检测研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.2 RFID电性能检测研究现状 | 第16页 |
| 1.2.3 RFID性能检测研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 课题的来源及论文所做主要工作 | 第17-19页 |
| 1.3.1 课题的来源 | 第17页 |
| 1.3.2 所做主要工作 | 第17-19页 |
| 第二章 天线印刷自动化装备 | 第19-28页 |
| 2.1 天线印刷原理 | 第19页 |
| 2.2 天线印刷自动化装备 | 第19-20页 |
| 2.3 印刷质量要求 | 第20-21页 |
| 2.4 印刷过程 | 第21-23页 |
| 2.5 印刷关键工艺及常见问题 | 第23-25页 |
| 2.6 RFID天线物理性能检测 | 第25页 |
| 2.7 RFID性能检测 | 第25-27页 |
| 2.8 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 RFID印刷天线物理性检测 | 第28-59页 |
| 3.1 物理性检测过程 | 第28-29页 |
| 3.2 物理性检测的预处理和特征提取 | 第29-49页 |
| 3.2.1 天线图像增强 | 第29-32页 |
| 3.2.2 基于投影法的天线图像分割 | 第32-37页 |
| 3.2.3 天线图像二值化分析 | 第37-45页 |
| 3.2.4 天线边缘检测 | 第45-49页 |
| 3.3 印刷天线物理性检测分析 | 第49-58页 |
| 3.3.1 物理性检测算法分析 | 第49-53页 |
| 3.3.2 接触\非接触式网版印刷天线物理性检测 | 第53-55页 |
| 3.3.3 漏墨不均型印刷天线物理性检测 | 第55-58页 |
| 3.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 RFID印刷天线电性能检测 | 第59-68页 |
| 4.1 RFID天线电导率 | 第59-60页 |
| 4.2 方块阻值 | 第60-61页 |
| 4.2.1 方块阻值计算方法 | 第60-61页 |
| 4.2.2 方块阻值的特点 | 第61页 |
| 4.3 方块阻值测量 | 第61-65页 |
| 4.3.1 铜棒测量法 | 第62-64页 |
| 4.3.2 探针测量法 | 第64-65页 |
| 4.4 探针法方块阻值测试 | 第65-67页 |
| 4.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 RFID印刷天线性能检测 | 第68-86页 |
| 5.1 现有算法分类及分析 | 第68-71页 |
| 5.1.1 现有算法分类 | 第68-70页 |
| 5.1.2 现有算法优缺点分析 | 第70-71页 |
| 5.2 趋势判定的轻量级解析算法 | 第71-78页 |
| 5.2.1 趋势判定的解析算法 | 第73-76页 |
| 5.2.2 跳跃式趋势判定轻量级解析算法 | 第76-78页 |
| 5.3 RFID性能检测平台 | 第78-81页 |
| 5.3.1 常用软件优劣势对比 | 第78-80页 |
| 5.3.2 OMNeT++平台 | 第80-81页 |
| 5.4 射频读写检测仿真分析 | 第81-85页 |
| 5.4.1 射频读写检测仿真分析 | 第81-85页 |
| 5.4.2 仿真结论 | 第85页 |
| 5.5 本章小结 | 第85-86页 |
| 总结与展望 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-90页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第90-91页 |
| 攻读学位期间参加的科研项目 | 第91-93页 |
| 致谢 | 第93页 |
