| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-17页 |
| 1.1.1 IGBT模块工程应用背景 | 第9-13页 |
| 1.1.2 IGBT模块热安全问题研究背景与意义 | 第13-15页 |
| 1.1.3 IGBT模块热阻与退化问题研究背景与意义 | 第15-17页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第17-19页 |
| 1.2.1 IGBT热阻测试国内外研究现状 | 第17-19页 |
| 1.2.2 IGBT模块退化失效机理国内外研究现状 | 第19页 |
| 1.3 主要工作内容 | 第19-21页 |
| 第二章 IGBT模块结壳热阻快速计算方法的研究 | 第21-47页 |
| 2.1 IGBT模块传热分析 | 第21-31页 |
| 2.1.1 模块传热数学模型研究 | 第21-23页 |
| 2.1.2 模块传热路径的仿真分析 | 第23-25页 |
| 2.1.3 模块温度特性仿真分析 | 第25-27页 |
| 2.1.4 模块热模型退化失效分析 | 第27-31页 |
| 2.2 IGBT模块结壳热阻的定义及计算方法研究 | 第31-35页 |
| 2.2.1 模块结壳热阻的定义 | 第31-32页 |
| 2.2.2 模块结壳热阻的定义法求解 | 第32-34页 |
| 2.2.3 模块结壳热阻的计算式及分析 | 第34-35页 |
| 2.3 IGBT模块瞬态结壳热阻抗与热阻关系研究 | 第35-39页 |
| 2.3.1 模块瞬态热阻抗及其等效模型研究 | 第35-37页 |
| 2.3.2 模块瞬态热阻抗与热阻关系研究 | 第37-39页 |
| 2.4 IGBT模块结壳热阻快速计算方法研究 | 第39-45页 |
| 2.4.1 模块瞬态热阻抗计算式分析 | 第39-41页 |
| 2.4.2 模块快速结壳热阻计算模型建立及其实现方法 | 第41-44页 |
| 2.4.3 模块结壳热阻快速计算方法仿真案例 | 第44-45页 |
| 2.5 本章小结 | 第45-47页 |
| 第三章 IGBT模块结壳热阻快速测试方法的研究 | 第47-63页 |
| 3.1 IGBT模块结壳热阻热敏测试法研究 | 第47-55页 |
| 3.1.1 热敏法测热阻的试验电路搭建 | 第47-49页 |
| 3.1.2 热敏参数的温度特性测定 | 第49-53页 |
| 3.1.3 模块结壳热阻的测试 | 第53-54页 |
| 3.1.4 结壳热阻测试结果分析 | 第54-55页 |
| 3.2 IGBT模块结温直接测量方法研究 | 第55-58页 |
| 3.2.1 结温直接测试方法研究 | 第55-56页 |
| 3.2.2 结温直接测试方法对模块传热影响分析 | 第56-58页 |
| 3.3 IGBT模块结壳热阻在线快速测试的应用研究 | 第58-61页 |
| 3.3.1 结壳热阻的快速测试 | 第59页 |
| 3.3.2 测试结果及分析 | 第59-61页 |
| 3.4 本章小结 | 第61-63页 |
| 第四章 IGBT模块结壳热阻退化估测研究 | 第63-71页 |
| 4.1 模块结壳热阻退化测试试验设计及结果分析 | 第63-65页 |
| 4.1.1 模块结壳热阻退化试验设计及试验结果分析 | 第63-64页 |
| 4.1.2 模块结壳热阻退化规律分析 | 第64-65页 |
| 4.2 IGBT模块结壳热阻退化评估方法的研究 | 第65-69页 |
| 4.2.1 模块结壳热阻退化评估模型的研究 | 第65-66页 |
| 4.2.2 模块结壳热阻退化评估方法的研究 | 第66-67页 |
| 4.2.3 模块结壳热阻退化评估案例 | 第67-69页 |
| 4.3 本章小结 | 第69-71页 |
| 第五章 结论 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
