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基于STM32的RFID读卡器设计与实现

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第9-15页
    1.1 RFID技术概述第9页
    1.2 RFID技术在国内外的应用及发展现状第9-13页
        1.2.1 RFID技术的典型应用第10-11页
        1.2.2 国外RFID技术的发展现状第11页
        1.2.3 RFID技术在国内的发展第11-13页
    1.3 选题背景和意义第13-14页
    1.4 本文主要内容及结构第14-15页
第2章 RFID系统的理论分析第15-25页
    2.1 RFID系统的组成第15-18页
        2.1.1 电子标签(Tag)第15-17页
        2.1.2 读卡器(Reader)第17-18页
    2.2 RFID系统的工作原理第18-19页
    2.3 RFID系统的分类第19-20页
    2.4 RFID标准体系第20-23页
        2.4.1 ISO标准第21页
        2.4.2 EPC Global标准第21-23页
        2.4.3 UID标准第23页
        2.4.4 三大标准体系协议比较第23页
    2.5 RFID技术的发展趋势第23-25页
        2.5.1 技术发展趋势第23-24页
        2.5.2 市场发展趋势第24-25页
第3章 读卡器的硬件设计第25-42页
    3.1 系统总体设计方案第25页
    3.2 STM32微控制器第25-32页
        3.2.1 STM32微控制器型号分类及命名规则第25-26页
        3.2.2 STM32资源和功能概述第26-32页
    3.3 MF RC522芯片第32-35页
        3.3.1 MF RC522芯片特性第32-33页
        3.3.2 MF RC522简化框图第33页
        3.3.3 MF RC522主要引脚说明第33-35页
    3.4 系统硬件电路的设计第35-40页
        3.4.1 射频模块MF RC522电路第35-36页
        3.4.2 天线的设计第36-38页
        3.4.3 控制电路设计第38-40页
    3.5 S50卡第40-42页
第4章 读卡器的软件设计第42-51页
    4.1 软件总体设计方案第42页
    4.2 读卡器STM32单片机软件设计第42-48页
        4.2.1 读卡器与IC卡的通信协议第42-47页
        4.2.2 读卡器单片机程序设计第47-48页
    4.3 上位机软件设计第48-51页
        4.3.1 读卡器与上位机传输协议第48-49页
        4.3.2 上位机软件设计第49-51页
第5章 读卡器功能测试第51-55页
    5.1 系统功能实现测试第51-53页
        5.1.1 系统初始化及复位功能测试第51页
        5.1.2 寻卡功能测试第51-52页
        5.1.3 读卡功能测试第52-53页
        5.1.4 写卡功能测试第53页
    5.2 系统性能测试第53-55页
        5.2.1 读卡距离测试第53页
        5.2.2 多张卡的读卡能力测试第53页
        5.2.3 电源电压适应能力测试第53-55页
第6章 总结第55-56页
参考文献第56-58页
附录A:读卡器实物图第58-59页
附录B:部分程序代码第59-64页
附录C:上位机界面部分程序框图第64-65页
攻读学位期间的研究成果第65-66页
致谢第66页

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