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面向层状微纳结构的反射差分光学测量方法与仪器研究

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第1章 绪论第10-30页
    1.1 层状微纳结构及其测量方法概述第10-14页
        1.1.1 层状微纳结构概述第10-11页
        1.1.2 层状微纳结构测量方法第11-14页
    1.2 反射差分光学信号的物理机理第14-16页
        1.2.1 反射差分信号第14-16页
        1.2.2 反射差分信号的层状模型第16页
    1.3 反射差分测量技术的发展第16-26页
        1.3.1 反射差分信号的偏振调制第16-19页
        1.3.2 快速反射差分光谱仪第19-21页
        1.3.3 反射差分显微镜第21-24页
        1.3.4 反射差分测量仪器和其它测量仪器的结合第24-25页
        1.3.5 反射差分测量技术的应用第25-26页
    1.4 课题研究背景与论文主要内容第26-30页
第2章 层状微纳结构的反射差分光学测量理论第30-52页
    2.1 层状微纳结构多层数学模型第30-43页
        2.1.1 麦克斯韦方程及边界条件第30-32页
        2.1.2 有效介质近似理论第32-33页
        2.1.3 反射差分信号的多层模型第33-37页
        2.1.4 层状微纳结构轮廓位置的多层模型第37-43页
    2.2 层状微纳结构几何参数对反射差分信号的影响第43-48页
        2.2.1 层状微纳结构和测量光斑相对尺寸对反射差分信号的影响第43-45页
        2.2.2 层状微纳结构轮廓转折处的反射差分信号第45-46页
        2.2.3 层状微纳结构轮廓宽度对反射差分信号的影响第46-48页
    2.3 物镜数值孔径对反射差分信号的影响第48-52页
第3章 显微式反射差分光谱仪设计第52-74页
    3.1 垂直入射式反射差分光谱仪第52-66页
        3.1.1 适用于显微成像的反射差分光学设计第52-55页
        3.1.2 数据采集与信号分析第55-58页
        3.1.3 仪器设计第58-66页
    3.2 显微式反射差分光谱仪第66-74页
        3.2.1 光学显微设计第66-67页
        3.2.2 数据采集与信号分析第67-69页
        3.2.3 仪器设计第69-74页
第4章 仪器性能测试与分析第74-96页
    4.1 研究意义第74页
    4.2 液晶可变相位延迟器校正方法及其温度响应对测量的影响第74-83页
        4.2.1 测量原理和数学模型第74-76页
        4.2.2 液晶可变相位延迟器校正方法对测量的影响第76-79页
        4.2.3 NI-RDS中液晶可变相位延迟器光电特性校正方法第79-83页
        4.2.4 M-RDS中液晶可变相位延迟器光电特性校正方法第83页
    4.3 液晶可变相位延迟器调制参数对测量噪声的影响。第83-92页
        4.3.1 测量噪声的传递函数第83-84页
        4.3.2 噪声传递函数的仿真第84-86页
        4.3.3 实验数据与分析第86-88页
        4.3.4 调制参数对NI-RDS信号噪声的影响第88-92页
    4.4 仪器性能验证第92-96页
        4.4.1 NI-RDS仪器性能测试第92-93页
        4.4.2 M-RDS仪器性能测试第93-96页
第5章 实验应用与结果分析第96-116页
    5.1 样品和实验环境第96-97页
        5.1.1 样品第96页
        5.1.2 实验环境第96-97页
    5.2 半导体绝缘层层状微纳结构第97-108页
        5.2.1 100nm厚的绝缘层层状微纳结构第98-103页
        5.2.2 20nm厚绝缘层层状微纳结构第103-108页
    5.3 金属电极/半导体衬底层状微纳结构第108-109页
    5.4 有机半导体层状微纳结构第109-116页
第6章 总结与展望第116-120页
    6.1 完成的主要工作第116-117页
    6.2 论文创新点第117页
    6.3 工作展望第117-120页
参考文献第120-128页
发表论文和科研情况说明第128-130页
致谢第130-131页

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