| 摘要 | 第2-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 1. 前言 | 第10-21页 |
| 1.1 D 类音频放大器背景 | 第10-11页 |
| 1.2 D 类音频放大器工作原理 | 第11-17页 |
| 1.2.1 工作原理概述 | 第11-15页 |
| 1.2.2 输出端原理 | 第15-17页 |
| 1.3 EMI 的概念及特征 | 第17-19页 |
| 1.4 EMI 的来源 | 第19-21页 |
| 2. 芯片EMI 测试方法 | 第21-33页 |
| 2.1 工业界芯片电磁干扰测试方法 | 第21-28页 |
| 2.1.1 工业界芯片电磁干扰测试方法概述 | 第21-23页 |
| 2.1.2 IEC 61967 和 IEC 62132 简介 | 第23-25页 |
| 2.1.3 两种常用电磁发射测试方法简介 | 第25-28页 |
| 2.2 空间辐射测试方法 | 第28-30页 |
| 2.3 传导辐射测试方法 | 第30-33页 |
| 3. 板级的测试实验及分析 | 第33-46页 |
| 3.1 针对D 类音频放大器EMI 测试板的设计 | 第33-35页 |
| 3.2 测试结果分析 | 第35-43页 |
| 3.3 D 类音频放大器板级的EMI 防治措施 | 第43-46页 |
| 4. 芯片级仿真与分析 | 第46-55页 |
| 4.1 针对NCP2820 的芯片级输出端结构分析 | 第46-49页 |
| 4.2 输出端瞬态模型的建立 | 第49-51页 |
| 4.3 输出端测量波形与仿真 | 第51-54页 |
| 4.4 结论 | 第54-55页 |
| 5. 调制方法对EMI 的影响 | 第55-59页 |
| 5.1 传统的D 类放大器调制方法 | 第55-56页 |
| 5.2 扩频调制方法 | 第56-59页 |
| 6. 总结 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 附录1 频谱分析仪的工作原理 | 第63-78页 |
| 附录2 TEM 屏蔽箱 | 第78-79页 |
| 附录3 磁珠 | 第79-81页 |
| 附录4 低电压D 类音频放大器实例NCP2820 介绍 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第84-86页 |
