摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
主要符号表 | 第13-14页 |
1 绪论 | 第14-26页 |
1.1 NTC热敏电阻简介 | 第14-17页 |
1.1.1 NTC热敏电阻发展历史 | 第14-16页 |
1.1.2 NTC热敏电阻基本性能参数 | 第16-17页 |
1.2 NTC热敏电阻的制备工艺 | 第17-21页 |
1.2.1 氧化物固相法 | 第18页 |
1.2.2 液相共沉淀法 | 第18-19页 |
1.2.3 溶胶-凝胶法 | 第19-20页 |
1.2.4 水热法 | 第20-21页 |
1.2.5 流变相法 | 第21页 |
1.3 NTC热敏电阻的烧结工艺 | 第21-22页 |
1.3.1 传统固相烧结 | 第21-22页 |
1.3.2 二步烧结 | 第22页 |
1.4 NTC热敏电阻材料的老化行为与机理 | 第22-23页 |
1.5 本论文研究意义与具体研究内容 | 第23-26页 |
2 实验试剂、设备及表征方法 | 第26-30页 |
2.1 实验分析设备 | 第26-27页 |
2.2 实验所用试剂 | 第27页 |
2.3 表征测试方法 | 第27-30页 |
2.3.1 激光粒度分析 | 第27页 |
2.3.2 TG-DSC分析 | 第27-28页 |
2.3.3 X射线衍射分析 | 第28页 |
2.3.4 扫描电子显微镜分析 | 第28页 |
2.3.5 能谱分析 | 第28页 |
2.3.6 体积密度测试 | 第28页 |
2.3.7 电阻率测试 | 第28-29页 |
2.3.8 老化性能测试 | 第29-30页 |
3 NiMn_2O_4热敏电阻陶瓷材料的制备与性能研究 | 第30-40页 |
3.1 流变相制备NiMn_2O_4热敏陶瓷材料 | 第30-31页 |
3.2 前驱体的TG-DSC分析 | 第31-32页 |
3.3 粉体的XRD分析 | 第32-33页 |
3.4 粉体的SEM分析 | 第33页 |
3.5 陶瓷的XRD分析 | 第33-34页 |
3.6 陶瓷的SEM分析 | 第34-35页 |
3.7 陶瓷的体积密度测试 | 第35页 |
3.8 陶瓷的电学性能测试 | 第35-37页 |
3.9 陶瓷的老化性能测试 | 第37-38页 |
3.10 本章小结 | 第38-40页 |
4 不同反应溶剂对NiMn_2O_4热敏电阻陶瓷材料的影响 | 第40-48页 |
4.1 不同反应溶剂制备的NiMn_2O_4热敏电阻陶瓷材料 | 第40页 |
4.2 粉体的激光粒度分析 | 第40-41页 |
4.3 不同反应溶剂制备的NiMn_2O_4热敏电阻粉体材料SEM分析 | 第41-42页 |
4.4 不同反应溶剂制备的NiMn_2O_4热敏电阻陶瓷材料XRD分析 | 第42-43页 |
4.5 不同反应溶剂制备的NiMn_2O_4热敏电阻陶瓷材料SEM分析 | 第43-44页 |
4.6 不同反应溶剂制备的NiMn_2O_4热敏陶瓷材料的电学性能测试 | 第44-45页 |
4.7 不同反应溶剂制备的NiMn_2O_4热敏陶瓷材料的老化性能测试 | 第45-47页 |
4.8 本章小结 | 第47-48页 |
5 Mn_(1.2)Co_xNi_(1.8-x)O_4(0.6≤x≤1.8)系列热敏陶瓷材料及性能研究 | 第48-60页 |
5.1 流变相制备Mn_(1.2)Co_xNi_(1.8-x)O_4(0.6≤x≤1.8)热敏陶瓷材料 | 第48-49页 |
5.2 不同温度煅烧后粉体的XRD分析 | 第49-50页 |
5.3 不同烧结温度陶瓷样品的SEM分析 | 第50-51页 |
5.4 陶瓷样品的能谱分析 | 第51-52页 |
5.5 不同组分陶瓷样品的XRD分析 | 第52页 |
5.6 不同组分陶瓷样品的SEM分析 | 第52-53页 |
5.7 不同组分陶瓷样品的电学性能研究 | 第53-54页 |
5.8 二步烧结陶瓷样品的XRD分析 | 第54-55页 |
5.9 二步烧结陶瓷样品的SEM分析 | 第55-56页 |
5.10 二步烧结陶瓷样品的电学性能研究 | 第56-57页 |
5.11 不同烧结程序陶瓷的老化性能分析 | 第57-59页 |
5.12 本章小结 | 第59-60页 |
6 结论与展望 | 第60-62页 |
6.1 结论 | 第60-61页 |
6.2 创新点 | 第61页 |
6.3 展望 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-68页 |
攻读硕士学位期间所取得的科研及实践成果 | 第68-70页 |
致谢 | 第70-72页 |
作者简介 | 第72页 |