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石墨烯薄膜的光电性能研究

摘要第3-4页
Abstract第4-5页
1 绪论第8-20页
    1.1 石墨烯的概述第8-11页
        1.1.1 石墨烯的发展第8-9页
        1.1.2 石墨烯的应用第9-11页
    1.2 石墨烯的结构和特性第11-13页
        1.2.1 石墨烯的结构第11-12页
        1.2.2 石墨烯的特性第12-13页
    1.3 石墨烯的制备方法第13-15页
        1.3.1 物理方法第13-14页
        1.3.2 化学方法第14-15页
    1.4 石墨烯的表征第15-18页
        1.4.1 光学显微镜第15-16页
        1.4.2 分光光度计第16页
        1.4.3 傅里叶变换红外光谱仪第16-17页
        1.4.4 xps能谱第17-18页
    1.5 本课题的研究意义和主要内容第18-19页
        1.5.1 课题的主要目的和意义第18-19页
        1.5.2 研究的主要内容第19页
    1.6 本章小结第19-20页
2 石墨烯薄膜的制备工艺及表征第20-32页
    2.1 超声指标的确定第20-25页
        2.1.1 超声功率的选择第20-21页
        2.1.2 超声时间的选择第21-23页
        2.1.3 超声溶剂的选择第23-24页
        2.1.4 超声分散液浓度的选择第24-25页
    2.2 涂层厚度的确定第25-26页
    2.3 表面活化第26-27页
    2.4 热处理温度的确定第27-29页
    2.5 电极的确定第29-31页
        2.5.1 电极厚度的确定第29-30页
        2.5.2 电极材料的确定第30-31页
    2.6 本章小结第31-32页
3 石墨烯薄膜器件的制备及测试第32-40页
    3.1 实验设备第32-37页
        3.1.1 JGP500型高真空多功能磁控溅射设备第32-33页
        3.1.2 ICP-98A型高密度等离子体刻蚀机第33-34页
        3.1.3 RTP-500型快速热处理设备第34-35页
        3.1.4 KQ-100D型数控超声清洗器第35页
        3.1.5 超纯水制备系统第35-36页
        3.1.6 KW-4A型台式匀胶机第36页
        3.1.7 keithley236源测量单元第36-37页
    3.2 实验原料第37页
    3.3 实验步骤第37-38页
        3.3.1 氧化石墨烯溶液制备第37页
        3.3.2 基底处理第37-38页
        3.3.3 基底GO的高温还原第38页
        3.3.4 电极制备及石墨烯薄膜器件的完成第38页
    3.4 本章小结第38-40页
4 石墨烯薄膜的光电性能研究第40-45页
    4.1 石墨烯薄膜的Ⅰ-Ⅴ特性研究第40-42页
    4.2 石墨烯薄膜的温度特性测试第42-43页
    4.3 石墨烯薄膜的光谱响应测试第43-44页
    4.4 本章小结第44-45页
5 结论与展望第45-46页
参考文献第46-49页
攻读硕士学位期间发表的论文第49-50页
致谢第50-52页

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