| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 引言 | 第16-17页 |
| 1.2 集成电路工艺与版图 | 第17页 |
| 1.3 研究意义与现状 | 第17-19页 |
| 1.4 本文主要工作及内容安排 | 第19-22页 |
| 第二章 版图使用的前期准备 | 第22-34页 |
| 2.1 版图介绍 | 第22-25页 |
| 2.1.1 计算机辅助设计与集成电路版图 | 第22-23页 |
| 2.1.2 集成电路版图与L-Edit软件 | 第23-24页 |
| 2.1.3 集成电路版图数据格式 | 第24-25页 |
| 2.2 将GDSII格式文件转化为CIF格式文件 | 第25-32页 |
| 2.2.1 GDSII格式文件输入及注意事项 | 第25-26页 |
| 2.2.2 图层选择 | 第26-30页 |
| 2.2.3 导出CIF格式文件 | 第30-32页 |
| 2.2.4 验证CIF格式文件 | 第32页 |
| 2.3 小结 | 第32-34页 |
| 第三章 关键面积算法与图像处理知识 | 第34-42页 |
| 3.1 关键面积 | 第34-36页 |
| 3.2 版图与图像处理 | 第36-38页 |
| 3.2.1 图像的数学描述 | 第36-37页 |
| 3.2.2 彩色图像的二值化 | 第37-38页 |
| 3.3 图像形态学相关运算 | 第38-41页 |
| 3.3.1 膨胀与腐蚀 | 第38-40页 |
| 3.3.2 骨架与细化 | 第40-41页 |
| 3.4 小结 | 第41-42页 |
| 第四章 基于可优化空间的SCA优化 | 第42-52页 |
| 4.1 现有的SCA提取方法 | 第42-45页 |
| 4.1.1 以IC版图基本数据信息为依据的SCA优化模型 | 第42-43页 |
| 4.1.2 以单位芯片关键面积上的SCA为依据的优化模型 | 第43-44页 |
| 4.1.3 以单一线网数据信息为依据的SCA优化模型 | 第44-45页 |
| 4.2 基于线网可优化空间的SCA优化 | 第45-51页 |
| 4.2.1 优化的依据及优化算法的提出 | 第45-46页 |
| 4.2.2 方法验证 | 第46-51页 |
| 4.3 小结 | 第51-52页 |
| 第五章 基于SCA约束的版图通孔优化 | 第52-74页 |
| 5.1 冗余通孔结构 | 第52-53页 |
| 5.1.1 基本冗余通孔结构 | 第52页 |
| 5.1.2 矩形冗余通孔结构 | 第52-53页 |
| 5.1.3 线上/线下冗余通孔 | 第53页 |
| 5.2 冗余通孔产生的增量SCA | 第53-55页 |
| 5.2.1 冗余通孔布线分析 | 第53-54页 |
| 5.2.2 增量SCA | 第54-55页 |
| 5.3 基于SCA控制条件的通孔优化技术 | 第55-65页 |
| 5.3.1 冗余通孔技术研究 | 第56-57页 |
| 5.3.2 无向图与通孔优化 | 第57-59页 |
| 5.3.3 基于SCA的冗余通孔优化 | 第59-60页 |
| 5.3.4 具体步骤 | 第60-65页 |
| 5.4 方法验证 | 第65-72页 |
| 5.4.1 初步验证 | 第65-68页 |
| 5.4.2 实际大规模版图的验证 | 第68-72页 |
| 5.5 小结 | 第72-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 作者简介 | 第82-83页 |
| 1. 基本情况 | 第82页 |
| 2. 教育背景 | 第82页 |
| 3. 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第82-83页 |
