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检测过程变异系数的相关控制图研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 引言第8-12页
    1.1 概述第8-10页
    1.2 本文结构第10页
    1.3 预备知识第10-12页
2 变异系数的基本性质第12-13页
3 检测CV的控制图第13-21页
    3.1 已有的一些CV控制图简介第13-15页
        3.1.1 KSH-γ控制图(Kang et al.(2007))第13页
        3.1.2 HE-γ控制图(Hong et al.(2008))第13-14页
        3.1.3 CE-γ~2控制图(Castagliola et al.(2011))第14-15页
    3.2 本文提出的两个新的CV控制图第15-21页
        3.2.1 双EWMA控制图(记为DE控制图)第15-17页
        3.2.2 DE控制图的设计第17-18页
        3.2.3 基于γ~2的标准化控制图(记为SE控制图)第18-19页
        3.2.4 SE控制图的设计第19-21页
4 控制图的表现比较第21-38页
    4.1 DE控制图与SE控制图的比较第21-22页
    4.2 SE控制图与CE-γ~2控制图的比较第22-24页
    4.3 SE控制图与SYN控制图的比较第24页
    4.4 SE控制图与SRR控制图的比较第24-25页
    4.5 RMI比较第25-38页
5 实例应用第38-45页
6 结论与展望第45-46页
    6.1 结论第45页
    6.2 进一步工作的方向第45-46页
致谢第46-47页
参考文献第47-50页

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