工业CT图像的探测器串扰伪影研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-18页 |
| ·课题的背景及意义 | 第8-14页 |
| ·工业CT 系统的组成及工作原理 | 第8-11页 |
| ·工业CT 图像质量的性能指标 | 第11-12页 |
| ·工业CT 常见伪影特征及其成因 | 第12-14页 |
| ·课题的提出及研究意义 | 第14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-15页 |
| ·论文的主要内容 | 第15-18页 |
| 2 探测器串扰的理论分析 | 第18-32页 |
| ·工业CT 系统探测器的结构及工作原理 | 第18-20页 |
| ·探测器系统的结构 | 第18页 |
| ·探测器系统的工作原理及性能指标 | 第18-20页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第20-23页 |
| ·探测器串扰产生的原因 | 第23-25页 |
| ·工业CT 图像重建过程 | 第25-27页 |
| ·探测器串扰的数学模型 | 第27-30页 |
| ·本章小结 | 第30-32页 |
| 3 工业 CT 系统的蒙特卡洛仿真 | 第32-50页 |
| ·蒙特卡洛方法介绍 | 第32-36页 |
| ·蒙特卡洛方法的基本原理及思想 | 第32-33页 |
| ·蒙特卡洛方法的步骤 | 第33页 |
| ·蒙特卡洛方法的优缺点 | 第33-34页 |
| ·工业CT 仿真常用的蒙特卡洛方法 | 第34-36页 |
| ·EGSnrc 软件的介绍 | 第36-41页 |
| ·EGSnrc 软件包的基本结构和特点 | 第36-38页 |
| ·EGSnrc 程序运行流程 | 第38-39页 |
| ·EGSnrc 程序中涉及的粒子模拟过程 | 第39-41页 |
| ·工业CT 系统的蒙特卡洛仿真 | 第41-49页 |
| ·射线源的仿真 | 第42-45页 |
| ·探测器系统的仿真 | 第45-47页 |
| ·EGSnrc 程序的加速策略 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 4 探测器串扰伪影特征及其影响因素的仿真 | 第50-70页 |
| ·EGSnrc 程序仿真探测器串扰 | 第50-57页 |
| ·仿真的具体流程 | 第50-52页 |
| ·一致串扰的仿真 | 第52-54页 |
| ·模块边缘通道串扰的仿真 | 第54-57页 |
| ·探测器串扰对图像的影响 | 第57-58页 |
| ·蒙特卡洛模拟影响串扰的因素 | 第58-62页 |
| ·串扰的抑制方法 | 第62-68页 |
| ·添加隔离层减小串扰的方法 | 第62-64页 |
| ·减去测得的串扰系数减小串扰的方法 | 第64-67页 |
| ·在图像的角度上去除串扰伪影的方法 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 5 总结与展望 | 第70-72页 |
| ·论文工作总结 | 第70-71页 |
| ·后续研究工作展望 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 附录 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第78页 |
